两线星型扫描测试控制器设计

针对现代测试系统需要较少的引脚实现测试要求的现状,IEEE 1149.7标准提供了2线星型(Star-2)扫描拓扑。由于目前Star-2扫描拓扑尚处于理论研究阶段,产生相关的测试信号对今后构建测试系统具有重要的意义。以该标准为依据,利用Quartus II开发平台设计了基于FPGA的两线星型扫描测试控制器,并通过Module-Sim6.4a进行了仿真验证。结果表明该控制器实现了标准协议和高级协议的相互转换,能够产生符合IEEE 1149.7标准的Star-2扫描测试信号以及MScan扫描格式。     

IDDQ测试理论及应用

阐述了IDDQ测试的概念、原理、测试方法及应用,在某些测试领域,它作为一种对传统电压测试方法的补充充分体现出了优越性。     

基于USB2.0的边界扫描测试控制器的设计

边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计方法,它用特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,深入研究了IEEE1149.1边界扫描标准,文章针对传统的边界扫描测试控制器的接口复杂度高,边界扫描测试控制器硬件复杂、成本高的缺点,提出了一种基于USB2.0接口的边界扫描测试控制器设计方案,设计USB接口电路及驱动程序;测试结果表明,该测试控制器产生的测试信号符合IEEE1149.1标准。同时该控制器具有硬件结构简洁,使用灵活,有较高的性价比的特点,有较好的应用前景。     

组合电路的故障测试生成并行ATPG算法研究

自动测试向量生成(ATPG)是借助计算机或者其他工具根据一定的测试生成算法自动的为被测电路生成测试向量的过程。文章给出了一种位级并行(split-into-W-clones)自动测试向量生成算法,该算法的判决按照位逻辑操作运算进行。通过将该算法与SCOAP可测性测度结合起来,为该算法前后向蕴涵选择最优路径,提高每次回溯成功的概率,达到减少回溯次数、加速测试向量的生成和提高故障覆盖率的目的。通过实验看出改进后的算法具有良好的性能。