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| 基于K60的数字逻辑芯片测试仪设计 | |
| 引用本文： | 任玲芝,张光照,李哲文.基于K60的数字逻辑芯片测试仪设计[J].赤峰学院学报(自然科学版),2018(8). |
| 作者姓名： | 任玲芝 张光照 李哲文 |
| 作者单位： | 巢湖学院机械与电子工程学院 |
| 摘 要： | 针对数字逻辑芯片损坏时却无法观察的情况,采用K60控制器,配合液晶显示屏、矩阵按键和芯片检测电路等,设计了一款界面友好、操作简单,具有检测数字逻辑芯片功能的芯片测试仪.不仅能够检测整个芯片是否正常工作,若芯片有多路输入输出,还能够检测具体某一路输入输出的运行状况,这样即使某路输入输出不能正常使用,还可以使用其他路,提高了芯片的利用率. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |