| 易逝性高科技产品更新过程风险的未确知测度评价 |
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| 引用本文： | 包宁,鲁若愚,刘德文.易逝性高科技产品更新过程风险的未确知测度评价[J].科技管理研究,2007,27(3):180-182. |
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| 作者姓名： | 包宁 鲁若愚 刘德文 |
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| 作者单位： | 电子科技大学,管理学院,四川成都,610054 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(70272042) |
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| 摘 要： | 本文从易逝性高科技产品更新期的特征出发,对新老产品更新带来的技术和市场两方面的风险因素进行系统分析,并建立风险评价指标体系,采用未确知测度模型进行风险的综合评价,应用实例表明了该方法的有效性。
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| 关 键 词： | 易逝性高科技产品 更新过程 风险评价 未确知测度 |
| 文章编号： | 1000-7695（2007）03-0180-03 |
| 收稿时间： | 2006-04-11 |
| 修稿时间： | 2006-06-28 |
The unascertained measurement evaluation on the risks of perishable hi-tech product in the renewing period |
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| BAO Ning,LU Ruoyu,LIU Dewen.The unascertained measurement evaluation on the risks of perishable hi-tech product in the renewing period[J].Science and Technology Management Research,2007,27(3):180-182. |
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| Authors: | BAO Ning LU Ruoyu LIU Dewen |
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