易逝性高科技产品更新过程风险的未确知测度评价 |
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引用本文: | 包宁,鲁若愚,刘德文.易逝性高科技产品更新过程风险的未确知测度评价[J].科学文化评论,2007(3):180-182. |
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作者姓名: | 包宁 鲁若愚 刘德文 |
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作者单位: | 电子科技大学,管理学院,四川成都,610054 电子科技大学,管理学院,四川成都,610054 电子科技大学,管理学院,四川成都,610054 |
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摘 要: | 本文从易逝性高科技产品更新期的特征出发,对新老产品更新带来的技术和市场两方面的风险因素进行系统分析,并建立风险评价指标体系,采用未确知测度模型进行风险的综合评价,应用实例表明了该方法的有效性.
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关 键 词: | 易逝性高科技产品 更新过程 风险评价 未确知测度 |
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