| 纳米二氧化锡薄膜的AFM研究 |
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| 引用本文： | 李艳琼,黄玛莉.纳米二氧化锡薄膜的AFM研究[J].贺州学院学报,2008,24(3):129-130. |
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| 作者姓名： | 李艳琼 黄玛莉 |
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| 作者单位： | 贺州学院,物理与电子信息工程系,应用物理院重点实验室,广西,贺州,542800 |
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| 基金项目： | 广西壮族自治区教育厅立项项目，贺州市科技局攻关科技项目 |
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| 摘 要： | 以SnCl4.5H2O作为反应前驱物,采用溶胶-凝胶法制备了纳米SnO2薄膜,对薄膜烧结的温度及时间等工艺进行了研究,得到了最佳的烧结条件,采用X射线衍射仪（XRD）及原子力显微镜（AFM）对薄膜进行了结构形貌表征。结果表明,当烧结温度为450℃时,纳米SnO2薄膜为金红石型结构,表面形貌最佳,平均颗粒约为39-45nm。
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| 关 键 词： | SnO2薄膜 AFM 烧结 |
AFM Characterization of Nano-SnO2 Thin Films |
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| Li Yanqiong,Huang Mali.AFM Characterization of Nano-SnO2 Thin Films[J].Journal of Wuzhou Teachers College of Guangxi,2008,24(3):129-130. |
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| Authors: | Li Yanqiong Huang Mali |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | AFM |
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