集成电路低功耗测试技术研究

针对测试过程中集成电路芯片测试功耗过高的问题,简要分析了集成电路芯片测试技术的现状,对国内外相应的测试方案进行了探讨,并对各种方案的优缺点进行了总结。     

集成电路工艺发展研究

在电子行业中,集成电路给其发展带来的影响是有目共睹的,通过一个高端的电子产品对提高人们工作和生活的质量起到了巨大的作用,并促进了信息技术时代的发展.同时,新型电子元器件带来高性能的电子产品,给电子组装业也带来了前所未有的挑战.本文主要集中在技术层面上,对集成电路工艺研究进行了详细讨论     

集成电路引线焊接无损检测技术的研究

激光扫描声学显微镜（SLAM）是目前较先进的一种集成电路引线焊接无损检测技术。本文从集成电路的特点出发,浅要分析了集成电路阴险焊接无损检测技术的工作原理,并对激光扫描声学显微镜进行简单的模拟实验,以供参考。     

CMOS集成电路闩锁效应抑制技术综述

闩锁效应是CMOS集成电路在实际应用中失效的主要原因之一,本文从CMOS集成电路工艺结构出发,详细地分析了闩锁效应的形成机理,并从版图和工艺设计两方面总结了几种抑制闩锁效应的关键技术。     

平面工艺制造集成电路的研究

平面工艺是在Si半导体芯片上通过氧化、光刻、扩散、离子注入等一系列流程,制作出集成电路;器件和电路都是在芯片表面一层附近处,整个芯片基本上保持是平坦的。单片集成电路工艺是利用研磨、抛光、氧化、扩散、光刻、外延生长、蒸发等一整套平面工艺技术,在一小块硅单晶片上同时制造晶体管、二极管、电阻和电容等元件,并且采用一定的隔离技术使各元件在电性能上互相隔离。     

大规模集成电路的功能测试研究

本文介绍了大规模集成电路功能测试的基本原理,并对集成电路功能测试的几个主要方法进行了概述,通过对比每种测试方法的优缺点,进而得出模拟故障法为适合我国大规模集成电路功能测试的最佳方法。该方法主要是解决了随着大规模集成电路的发展,单个电路本身的输入、输出管脚数量不断增加而带来的测试矢量呈现指数增长的问题,从测试时间和测试成本上考虑,使用传统的穷举法已经不可能符合大规模集成电路的测试要求。与传统的穷举法相比,它可以在不降低测试结果的准确性和可靠性的同时,使编制程序所需要的测试矢量控制在可以接受的水平上。最后,本文介绍了模拟故障法的主要思路和测试顺序。     

砷化镓太阳能电池有望打破能效记录

阅读提示:这次美国科学家一反常规,创造条件让电池板向外放射荧光,看似损失了能量,实则提高了效率,向理论极限迈进一大步。自上世纪60年代以来,砷化镓太阳电池技术一路改进,但单结砷化镓薄膜电池的转化率一直没有突破27%。过去由于成本原因,优质光电材料砷化镓没有像硅那样大规     

集成电路PUF领域专利布局研究

分析目前集成电路PUF领域的国际发展趋势、技术分布情况和重点申请人布局,为我国集成电路PUF技术的发展和专利布局提供参考.通过incoPat专利检索工具,对全球PUF领域专利数据进行采集,对获得的数据进行预处理,并对该领域专利申请的年度趋势、专利申请人、核心专利情况、技术分支等特征进行分析.通过专利信息分析,得出我国在...     

光纤通信系统超高速集成电路设计

简述了光纤通信的发展、相关的协议与标准、系统的组成;各种工艺 的发展和对超高速集成电路的影响;光纤传输系统中关键集成电路的工作原理和电路技术。 探讨了中国发展超高速集成电路的方向。     

建设技术创新平台 发展集成电路设计研究与教育

全球信息化的推进,使集成电路的需求量迅速增长,为集成电路产业的发展开辟出巨大的市场空间,对设计业的发展规模与速度也提出极为迫切的需求.文章简要分析了我国集成电路设计产业发展状况与趋势,指出我国和我院IC设计面临的问题与挑战,在此基础上提出国家层面的应对策略以及我院的发展举措.     

集成电路专业教学改革的探讨

介绍了集成电路专业教学改革研究与实践的措施,并总结了该措施的创新点.该方法的推广应用对于指导高校正在开展的特色专业和品牌专业建设,具有十分重要的意义.