薄膜干涉反射光半波损失计算的讨论

从薄膜干涉现象及半波损失概念出发 ,分析讨论透明薄膜所处介质折射率不同时 ,反射光因半波损失所引起的额外程差的计算方法 ,作为《光学教程》中讨论额外程差的补充 ,并就讨论薄膜干涉的条件及其结果的表达式提出修改意见     

薄膜干涉中半波损失问题探析

讨论了薄膜干涉中半波损失的产生及形成条件。     

基于薄膜干涉的研究

光学薄膜是现代光学仪器和光学器件的重要组成部分,它在各类光学系统中的应用极为广泛。传统的光学薄膜是以光的干涉为基础,并以此设计和制备增透膜、高反膜、滤光膜、分光膜、偏振及消振膜。本文根据薄膜干涉的基本原理,阐述了半波损失的条件和薄膜厚度的选取。     

薄膜干涉的教学探索

大学物理的教学中，薄膜干涉是波动光学中的一个重要教学内容，在教学实践中，应采用先讲述分析处理薄膜干涉问题的思路和步骤，再按此思路和步骤来分析具体的薄膜干涉问题的教学方法。此方法也可适用于其他类似内容的教学。     

如何用薄膜干涉法判定平面的凹凸

薄膜干涉是薄膜的前后两表面的发射光形成的干涉·它的主要应用之一是检查平面的平整程度·其检查精度可达10-8m·一、原理把一个标准样板放在待检查平面的上面,     

释疑薄膜干涉

光的干涉是指两列频率相等、相差恒定的光波在李间替加时,产生的有的地方光的振动加强,有的地方光的振动减弱的现象．产生明显干涉现象必须要有两列相干的光波叠加,如双缝干涉装置中用靠得很近的“双缝”产生两列相干的光波,那么薄膜干涉现象中的相干光波是怎样产生的呢？     

迈克尔逊干涉测薄膜厚度

利用迈克尔逊干涉原理测量薄膜厚度的方法,以测量PE保鲜膜和透明塑料膜为例,采用白光干涉产生的彩色条纹来精确测量薄膜的厚度,通过采集干涉产生的实验数据,计算出薄膜的厚度,这是一种实用有效的方法.此方法的测量范围为1μm～1cm,测量精度为0.1μmn.     

双缝干涉与薄膜干涉

双缝干涉：两个独立的光源发出的光不是相干光,双缝干涉的装置使一束光通过双缝后变为两束相干光,在光屏上相干形成稳定的干涉条纹.在双缝干涉实验中,光屏上某点到双缝的路程差为半波长的偶数倍时,该点出现亮条纹;光屏上某点到双缝的路程差为半波长的奇数倍时,该点出现暗条纹.A.对干涉图样的研究可知：相邻两条明条纹（暗条纹）中心距离与屏到双缝的距离L成正比;与双缝间距离d成反比;     

薄膜干涉的应用

薄膜干涉作为一种光的干涉现象,在现实中应用很多,本文介绍了其在检查平面的平整程度、解释牛顿环、增透膜三方面的应用.     

浅议反射光的偏振态

本文讨论了自然光入射到两种介质的交界面时,反射光的偏振状态。发现反射光的偏振态与入射角和两介质的相对折射率有关。     

关于反射光偏振态的探讨

讨论反射光偏振的理论依据是麦克斯韦电磁场理论,与介质的折射率、入射光的偏振态及入射角有关,注意相位的改变,然后依据菲涅耳公式来判断.     

薄膜生长的计算机模拟

沉积在液体基底表面的金属原子会凝聚形成具有特殊结构的分形凝聚体．针对这一实验结果，建立了薄膜生长的计算机模拟模型，模拟了此类凝聚体的生长机理．     

反射光及折射光的偏振状态和偏振度

探讨了自然光入射到两种介质的交界面时，反射光及折射光的偏振状态和偏振度，并利用计算机工具得出其偏振度的数值解。     

有机电致发光薄膜的制备与测试

用喔星铝作发光层、铝作负电极,镀制了有机电致发光薄膜器件,测量了其特性曲线,定性分析了发光原因,总结了材料的物性.     

内反射条件下线偏振光入射时反射光的偏振结构

基于菲涅耳公式讨论了在内反射条件下,等振幅TE和TM线偏振光以不同入射角入射时反射光偏振状态,发现在入射角满足0≤i1≤ic时,反射光为线偏振光,其振动方向随入射角增加变化;当ic＜i1＜90°时,反射光为左旋椭圆偏振光;当i1=90°时,反射光又蜕变为线偏振光.     

对线偏光反射后偏振态的讨论

根据菲涅耳公式,讨论了线偏振光在两种介质的分界面上反射时,反射光的偏振态与入射角、折射率、入射线偏振光矢量方向之间的关系．     

有机电致发光薄膜的研制

根据Abeles法测量了喔星锌的折射率为 1.6 97;利用下涉极值法代替石英晶体振荡法进行监控 ,通过真空蒸发镀制了光学厚度 (nd)为 540nm的喔星锌有机电致发光薄膜 ,说明在真空蒸发下干涉极值法监控有机电致发光薄膜的膜厚是有效的 .     

铝掺杂氧化锌薄膜的制备及其特性

采用直流反应磁控溅射法,制备了铝掺杂的氧化锌薄膜.结果显示：薄膜在500℃退火后透光率高,光敏特性良好,并且有明显的紫外光响应.其XRD衍射谱表明随着O2与Ar流量比的增加,对应于（002）晶面的衍射峰趋于尖锐,c轴取向突出明显.