迈克尔逊干涉测薄膜厚度

利用迈克尔逊干涉原理测量薄膜厚度的方法,以测量PE保鲜膜和透明塑料膜为例,采用白光干涉产生的彩色条纹来精确测量薄膜的厚度,通过采集干涉产生的实验数据,计算出薄膜的厚度,这是一种实用有效的方法.此方法的测量范围为1μm～1cm,测量精度为0.1μmn.     

基于薄膜干涉的研究

光学薄膜是现代光学仪器和光学器件的重要组成部分,它在各类光学系统中的应用极为广泛。传统的光学薄膜是以光的干涉为基础,并以此设计和制备增透膜、高反膜、滤光膜、分光膜、偏振及消振膜。本文根据薄膜干涉的基本原理,阐述了半波损失的条件和薄膜厚度的选取。     

有机电致发光薄膜的研制

根据Abeles法测量了喔星锌的折射率为 1.6 97;利用下涉极值法代替石英晶体振荡法进行监控 ,通过真空蒸发镀制了光学厚度 (nd)为 540nm的喔星锌有机电致发光薄膜 ,说明在真空蒸发下干涉极值法监控有机电致发光薄膜的膜厚是有效的 .     

NI视觉软件的光学元件厚度测量装置

介绍一种基于NI视觉软件的光学元件厚度测量装置。首先介绍光学元件厚度测量的基本原理-迈克尔逊等倾干涉;然后搭建光路,利用CCD进行干涉图像采集,传输到计算机中,利用NI视觉软件对图像进行处理,得出光学元件厚度;最后对测量误差产生的原因和消除途径进行了分析。该装置经过详实周密的数据处理,提高了测量精度和分辨力。     

傅里叶变换光谱学方法测量光纤光栅色散

用傅里叶变换光谱学方法测量光纤光栅的色散.详细阐述了光纤迈克尔逊干涉测量系统的组成和对采集的干涉图数据进行离散傅里叶变换处理的原理,讨论了测量中扫描频率的选取、光程扫描范围的确定和数据处理中如何提高波长分辨率、相位解卷绕等问题,给出了实验结果并对误差来源进行分析.系统具有结构简单、测量时间短等优点.实际测量结果重复性优于5 ps.     

DDI METHOD FOR MEASURING OPTICAL CONSTANTS OF THIN FILMS

双光束双波长激光干涉（ＤＤＩ）法采用自行设计的可测双波长氦氖激光器作光源，可在同一光路中通过二次测量获得薄膜样品两个波长（０．６３３μｍ，３．３９μｍ）下的光学常数，即折射率、消光系数和厚度，文中论述了调量原理、测量装置和测量结果．     

迈克尔逊干涉仪测量薄膜的折射率与厚度

用迈克尔逊干涉仪测量薄膜折射率与厚度的方法,原理简单．通过测出动镜的移动量及观察相应的干涉条纹变化现象,就能计算薄膜的厚度,有较高的测量精度．并基于此装置进行实际测量,理论和实际相符的较好．     

数字图像处理技术在牛顿环实验中的应用

针对牛顿环实验中传统观察和测量手段存在的弊端,进行实验改进。利用CMOS视频摄像头和计算机结合传统光学实验系统,构建廉价的数字图像采集系统,将现代图像处理技术合理地溶入普通物理实验中的光学实验中,可增强实验直观性,解决实验观察及演示难的问题。通过图像增强、二值化和细化等数字图像处理技术得到单像素的牛顿环干涉条纹,实现干涉条纹中心的精确定位,提高测量精度。     

相位模板技术与布拉格光纤光栅的写入

由于相位模板法仅使用一个光学器件 ,因而减少了光纤光栅制造系统的复杂性 ,是光纤布拉格光栅写入法中最有前途、使用最广泛并且具有本征稳定性的一种方法 .本文总结了相位模板技术及各种光纤布拉格光栅的写入 .值得注意的是在相位干涉法中 ,只用一块相位模板 ,就可以调整写入光纤布拉格光栅的波长 .在这些系统中 ,写入光纤光栅的紫外线 ( UV )干涉条纹经由一些光学元件 ,其中 ,相位模板的作用通常是± 1级衍射光的分束器     

分振幅薄膜干涉-等厚干涉实验拓展

通过分析空气劈尖的直线型等厚干涉条纹到牛顿环的圆环型等厚干涉条纹的逐渐演变过程,解释了劈尖干涉条纹及牛顿环干涉圆环分布的特点.证实了劈尖干涉和牛顿环干涉产生机理的一致性,即两种干涉均属于分振幅薄膜干涉-等厚干涉,这在一定程度上是对目前国内常见《光学》教材中薄膜干涉-等厚干涉相关内容的补充和完善,加深了学生对分振幅薄膜干涉-等厚干涉原理的理解,教学效果明显提高.     

等厚干涉牛顿半环

本文给出了等厚干涉牛顿半环，分析了薄膜台阶产生的反射牛顿半环，并给出了利用牛顿半环测薄膜厚度的方法。     

用劈尖干涉测定液体折射率

依据等厚干涉原理 ,介绍用劈形薄膜表面上所产生的干涉现象即劈尖干涉测定液体折射率的方法 ,并给出测量结果 .     

基于Matlab GUI的薄膜干涉仿真

为动态反映薄膜干涉图样随波长和干涉装置的几何参数的改变而产生的变化,利用Matlab图形用户界面的设计和开发功能,结合真实的可见光谱,制作了劈尖干涉、牛顿环干涉以及迈克尔逊干涉的交互式图形仿真界面.仿真结果图形细致逼真,使该过程的物理规律直观形象,有助于学生理解这几种典型薄膜干涉过程中的物理规律.     

多功能薄膜干涉实验装置的应用

在常规实验装置的基础上设计安装了一个光具架,由此制成了一种多功能薄膜干涉实验装置。在该装置上不仅可以完成常规的牛顿环实验,还可完成劈尖干涉实验和多种扩展实验,解决了在单一薄膜干涉实验装置上只能完成一种实验的弊端。     

用激光作光源的非定域干涉研究

运用光的多光束干涉理论，分别讨论了点光源在薄膜厚度均匀和不均匀情况下的条纹及性质；在考虑观光束干涉的情况下，导出测量平扳楔角的公式；对结果的准确性进行了分析，并给出实验结果。     

谈等倾干涉和等厚干涉的异同

对等倾干涉和等厚干涉的干涉条纹作了比较归纳出等倾干涉和等厚干涉条纹的主要异同点     

牛顿环与等倾干涉条纹比较

对牛顿环等厚干涉和薄膜等倾干涉条纹形状、干涉级次以及膜厚改变和复色光照射时的情况作了比较分析．     

激光测距观察仪中光学薄膜的研究

激光测距观察仪不仅能观察远距离目标,还能利用激光测距原理测出目标与观察者之间的距离。为了实现这两大功能,必须在激光测距观察仪的光学系统中制备大量的光学薄膜。根据光学薄膜的用途不同,光学系统中的光学薄膜主要有双波段增透膜、干涉截止滤光膜、可见光宽带增透膜和红外点增透膜等。     

对迈克尔孙干涉图样的分析

讨论了迈克尔孙干涉实验中产生的干涉条纹形状及形成的原因,介绍了调出等倾干涉条纹和等厚干涉条纹的正确实验方法,以纠正学生在实验中可能发生的常见错误。