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随着半导体工艺的发展,SOC芯片的规模越来越大,工艺尺寸却越来越小,而且运行频率要求越来越高,传统的可测性技术受到严峻的挑战,全速测试(AT-Speed Test)变得尤为重要,就全速扫描测性技术及其在SOC特别是片上有PLL的芯片中的实现进行介绍和讨论。 相似文献
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本文针对目前日益复杂的包括软件和硬件设计的FPGA系统设计开发,提出了整合电子系统级设计的FPGA系统开发流程,从而提高了FPGA系统设计开发的效率。 相似文献
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有可能赢的切入点
SOC可以译为"系统集成芯片",意指一个产品,是一个有专用目标的集成电路,其中包含完整系统并有嵌入软件的全部内容;但更多的时候把SOC译为"系统芯片集成",意指一个技术,用以实现从确定系统功能,到软/硬件划分,并完成设计的整个过程. 相似文献
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