试论等倾干涉条纹与牛顿环之异同

从条纹形原理以及用数学推导方法 ,讨论了等倾干涉条纹与牛顿环的异同 ,并介绍了实验鉴别方法     

牛顿环与等倾干涉条纹比较

对牛顿环等厚干涉和薄膜等倾干涉条纹形状、干涉级次以及膜厚改变和复色光照射时的情况作了比较分析．     

谈等倾干涉和等厚干涉的异同

对等倾干涉和等厚干涉的干涉条纹作了比较归纳出等倾干涉和等厚干涉条纹的主要异同点     

对牛顿环实验中干涉条纹位置的分析

对牛顿环干涉条纹的位置作了分析 ,指出了测量干涉条纹的合适级数     

牛顿环干涉条纹的位置分析

通过对干涉问题的分析，指出实验中为什么认为牛顿环干涉条纹在空气膜上表面．     

单色扩展光源引起的等倾干涉条纹的形状

单色扩展光源引起的等倾干涉条纹的形状,在焦平面平行于薄膜时干涉条纹是一组同心圆。一般情况下,当焦平面不平行于薄膜时干涉条纹是圆锥曲线族。干涉条纹由内向外依次为椭圆、抛物线、双曲线。     

点光源产生的等倾干涉条纹的定域

“等倾干涉条纹定域于无穷远处”,这是许多教科书给出的结论。本文通过点光源在均匀薄膜上产生的等倾干涉的讨论,说明上述结论不适用于点光源产生的等倾干涉,结论是:点光源产生的等倾干涉条纹定域于包括薄膜表面的上半空间。     

关于等倾干涉的讨论

用类似归纳的方法讨论了物理各种光源的等倾干涉，在讲述过程中把光线的倾角适度“量化”处理，便讲述思路清晰，条理清楚，因此对等倾干涉的理解也与更容易，透彻。     

关于等倾干涉的讨论

用类似归纳的方法讨论了物理各种光源的等倾干涉,在讲述过程中把光线的倾角适度“量化”处理,便讲述思路清晰、条理清楚,因此对等倾干涉的理解也与更容易,透彻.     

类似于牛顿圈的等厚干涉浅析

本文给出丁两个曲率半径不等的球面互相接触形成的仿牛顿圈装置所产生的干涉条纹的半径及条纹的特征．     

等倾干涉条纹的一种几何直观教学方案

本文介绍用几何光学方法进行等倾干涉条纹教学的一种方案,它能直观地解释圆条纹的形成和条纹分布规律与射角i等的关系。     

等厚干涉牛顿半环

本文给出了等厚干涉牛顿半环，分析了薄膜台阶产生的反射牛顿半环，并给出了利用牛顿半环测薄膜厚度的方法。     

利用牛顿环实验解释薄膜干涉凹凸现象

在中学物理教材中，讲解薄膜干涉现象时，针对它的应用，有一点是检查表面的平整度，将一块标准件放在另一块检查件上，形成夹角很小的劈尖，观察它们所形成的干涉条纹．如果等厚条纹是一组互相平行的等间距的直条纹，那么检查的平面是光洁平面，如果等厚条纹是一些疏密不均匀的变化曲线，那么根据实际条纹与直线条纹之间的差异，就可判断待测工件平面“凸起”或“凹陷”的情况。     

非单光源对牛顿环干涉条纹的影响

在实际的牛顿环干涉装置中,采用的钠光源是非单色光源.从干涉理论出发,讨论了钠双线结构对干涉条纹清晰度产生的影响.     

关于等倾干涉的讨论

在大学物理教科书中,关于薄膜干涉一般只限于介绍干涉极大和干涉极小的条件及其位置,将注意力集中在薄膜的二束反射光束的几何光程差和附加光程差上,涵盖的内容不够全面,存在一定的缺憾。针对这一情况,本文从Fresnel公式出发,考虑以下三方面因素分析讨论了厚度均匀薄膜的等倾干涉条纹分布特征及成因:(1)当界面发生全反射时,附加光程差不再通过简单的半波损失表示;(2)把光矢量偏振态的平行分量和垂直分量加以区分;(3)反射偏振相干光的强度随着入射角的变化关系。     

迈克尔逊等倾干涉图样的数学推导及分析

用数学方法对迈克尔逊等倾干涉图样进行了分析,获得了干涉条纹的条纹半径和条纹宽度随干涉图样级次的变化规律以及条纹宽度随两平面镜之间距离的变化关系.     

分振幅薄膜干涉-等厚干涉实验拓展

通过分析空气劈尖的直线型等厚干涉条纹到牛顿环的圆环型等厚干涉条纹的逐渐演变过程,解释了劈尖干涉条纹及牛顿环干涉圆环分布的特点.证实了劈尖干涉和牛顿环干涉产生机理的一致性,即两种干涉均属于分振幅薄膜干涉-等厚干涉,这在一定程度上是对目前国内常见《光学》教材中薄膜干涉-等厚干涉相关内容的补充和完善,加深了学生对分振幅薄膜干涉-等厚干涉原理的理解,教学效果明显提高.     

用分光计观察入射角变化时的等倾干涉图样

在分光计上可观察到等倾干涉图样随入射我不同而变化的现象，本文介绍观察这一现象的方法，并对此现象的成因作简要分析。     

关于等厚干涉条纹数目的讨论

大学物理中,计算等厚干涉形成的条纹数目时,经常采用计算相邻两明(暗)纹的间隔数,然后条纹间隔数即等于条纹数。多年的教学实践表明采用上述方法计算明、暗条纹数,物理意义不很清晰,特别是学生不易掌握。文中提出了采用加强和减弱条件计算明、暗条纹数的方法,该方法意义明确,学生更易于接受。