新型微带双模带通滤波器设计

设计一种新型的微带双模椭圆函数带通滤波器,该结构带有两个方形切角且中心开圆形槽,并用Ansoft电磁仿真软件对该滤波器结构进行仿真。该滤波器在中心频率2.26GHz处,最小插入损耗为0.27dB,通带内在2.22~2.33GHz之间插入损耗小于1dB,在2.25~2.31GHz之间回波损耗大于20dB,3dB相对带宽为7.08%。在通带两侧有3个衰减极点,提高了阻带的抑制能力。研究表明,该滤波器结构能减小滤波器的体积,有利于实现器件的小型化,同时还能有效减小辐射损耗,使滤波器性能更优。     

双模介质谐振器及其带通滤波器的设计

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一种改进的双环双模带通滤波器设计

提出了一种改进的双环双模带通滤波器,由一个环形谐振器、一个微扰小环和加栽在微扰小环上的开路枝节构成．改进之后,除了微扰小环的高度和宽度宽度两个可调参数外,增加了一个新的可调参数：开路枝节长度,从而更容易地调节双模,便于实现滤波器的小型化．文中最后设计出了中心频率为2．4GHz、相对带宽约为12％的改进的双环双模带通滤波器,测试结果和仿真结果吻合较好．     

具有陷波特性的超宽带带通滤波器设计

针对超宽带无线通信系统,提出了一种结构新颖的具有陷波特性的微带线超宽带带通滤波器.该滤波器由级联1/4波长短截线和耦合阶跃阻抗谐振器构成,超宽带滤波器的带通滤波特性由1/4波长短截线结构产生,通过耦合阶跃阻抗谐振器实现通带内的窄带陷波特性.利用电磁仿真,验证了所设计的滤波器的性能.     

电容加载矩形腔双模滤波器的设计

本文介绍了一款窄带矩形腔双模滤波器的设计方法,相对带宽只有0.272%,并且利用电容加载技术,使腔体体积缩小。采用螺钉耦合实现两个模式之间的扰动,耦合缝实现腔体间的耦合。首先利用自编程序得到满足指标要求的耦合系数矩阵,然后运用HFSS仿真软件得到耦合螺钉的长度与耦合缝的尺寸,最后通过调试得到窄带双模滤波器。     

带通滤波器的计算新思路

用一种新的思路和方法,先计算低通、计算高通滤波器的有关参数,然后组合成带能滤波器。     

基于1/4波长耦合线的高选择性宽带带通滤波器

运用1/4波长耦合线设计了一个高选择性的宽带带通滤波器结构。运用开路/短路耦合线构成了端口1到端口2的两条传输路径,实现了一个通带两端具有多个传输零点的三阶宽带滤波器。为了验证所提出的设计方法,加工测试了一个3-dB相对带宽为46.3% (2.3~3.68 GHz)的结构模型,测试结果和仿真试验吻合较好。     

第二通带可调的双通带滤波器设计

研究了一种双通带带通滤波器,构成方法是在等腰直角三角形阶梯阻抗开路环内部通过微带线连接一个三角形贴片。滤波器第一通带的中心频率取决于开路环传输线的长度,第二通带的中心频率由贴片、连接微带线和开路环三者的尺寸共同决定。改变贴片斜边边长,可以调节第二通带的中心频率,同时保持第一通带中心频率和带宽不变。仿真结果验证了设计方法的有效性。     

微带SIR带通滤波电路级联矩阵设计法

应用SIR(阶梯阻抗谐振器)构成的平行耦合线微波带通滤波电路，可以有效地抑制高次谐波。本提出等电长度微带SIR带通滤波电路的级联矩阵设计法，它无需通过低通原型进行设计，并且便于分析宽频率范围内的响应特性。     

新型双频窄带带通滤波器的设计

提出了1种新型双频窄带带通滤波器,由1段1/4波长的均匀阻抗线以及1/2波长的U型阶跃阻抗谐振器组成,输入输出采用抽头式。所设计滤波器中心频率为2.4/5.6 GHz,为无线通信系统中的常用频率。该滤波器的带外有3个传输零点的引入,增强了通带隔离度以及阻带的抑制特性,带内回波损耗低于-0.3 dB。双频窄带带通滤波器的频率响应特性S11和S21的仿真结果与实测结果基本吻合,滤波器的尺寸为30 mm×30 mm。     

基于双模结构重复控制器的有源电力滤波器混合电流控制方案的设计与分析

提出了一种用于单相有源电力滤波器的全数字式混合电流控制方案．该混合电流控制方案结合无差拍控制以及双模结构重复控制以实现优异的稳态性能和动态特性．区别于传统方案,采用该方案的有源电力滤波器可消除电网中存在的奇次和偶次谐波．给出了该混合电流控制方案的详细设计原则,并进行了稳定性分析．在此基础上,提出了混合电流控制结合谐振控制器的一种优选方案以消除电网中的特定次谐波,并讨论了谐振控制与几种重复控制的内在联系．实验结果验证了电流控制方案在有源电力滤波器中的优点和有效性．     

低损耗TiO2/Ormosil平面波导的制备及表征

TiO2/ ormosil planar waveguide was prepared by sol-gel method at low thermal treatment temperature （ 〈 200 ℃）. Scanning electron microscope, FT-IR spectrometer, spectrophotometer, atomic force microscopy, thermal analyzer, and dark m-line spectroscopy were used with the method of scattering-detection to investigate optical and structural properties. High optical quality waveguide film was obtained. The propagation loss of film was 0.569 dB/cm at a wavelength of 632.8 nm.