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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
文献[1]介绍了用CCD作为探测接收装置记录了离轴全息图,利用抽样理论和数字处理技术再现了物体的实像。利用上述原理设计了一种方法实现同轴全息图的记录和再现。  相似文献   

2.
考察了迈克尔逊干涉仪常用的三种调节方法,通过光路分析,探讨了它们的可行性,指出了其中的不足,提出了改进的措施。  相似文献   

3.
戴维·莫利是英国文化研究尤其是媒介研究领域的重要人物.他的民族志电视观众研究是受众研究范式的转型之作,也是媒介文化研究的经典.20世纪90年代以后,戴维·莫利及时吸纳新兴理论,采取一种更为全面的视野为信息时代的媒介研究延伸着新的发展空间.文章通过对莫利的媒介研究理论进行一种历史性的描述.以彰显其学术史意义并努力再现出媒介研究的发展脉络.  相似文献   

4.
在学生实验中,设计了一些相关的可定性观察的内容,开拓了学生的思维,提高了兴趣,效果较好.  相似文献   

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远程教育由于教与学的分离而使实验教学难于开展,为解决这一问题,网络仿真实验技术应运而生。基于VRML设计和实现了迈克尔逊仿真实验,并就实现技术的选择、系统设计原理做了介绍。系统取得了较好的使用效果,对远程实验教育具有一定的借鉴意义。  相似文献   

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迈克尔逊干涉仪实验容易受到振动的影响,导致干涉条纹抖动,甚至出现干涉条纹短暂消失,影响测量。分析了振动对光波波长测量的影响,设计出了一种简易防震台,实验证明能明显减小震动的影响。  相似文献   

10.
Morley魔方的美妙性质   总被引:1,自引:0,他引:1  
首先介绍了新发现的一类莫莱三角形及其边长公式,并用纯几何方法给出了简洁的统一证法,指出了莫莱三角形对应边的位置关系和莫莱三角形的一些奇妙共点线,最后给出了共边莫莱三角形一个优美的性质。  相似文献   

11.
详细分析了在扩展光源照明下迈克尔逊干涉仪实验中常出现的几个问题,并提出了相应的解决方案,对理解和指导实验具有实际意义。  相似文献   

12.
用Flash MX中的ActionScript模拟迈克尔逊干涉仪,制作出交互式多媒体课件,提高了物理实 验教学的质量。本文阐述了迈克尔逊干涉仪的原理及其模拟过程的编程方法,并给出部分原程序。  相似文献   

13.
通过对比和分析,讨论了迈克尔逊-莫雷实验测量地球相对绝对静止参考系的相对运动时的条纹移动问题,认为测量过程中旋转90°后的光强是不变化的,因此它不能测出相对运动速度。要测相对运动速度,可对测量方法做一个改进。  相似文献   

14.
文章通过对迈克尔逊干涉仪功能开发,介绍了在迈克尔逊干涉仪上如何做偏振光的干涉实验,光源的空间相干性实验的方法.从实验中可以对偏振光的干涉,空间相干性有清楚的认识,解决了光学教学中的难题.  相似文献   

15.
基于非定域干涉光程差级数展开的方法,通过对迈克尔逊干涉仪测He-Ne激光波长实验,探索了在干涉图样半径R≠0和不满足非定域干涉两种情况下,激光光波长的理论计算结果和近似结果之间相对误差随参数变化关系。以二阶展开为例,计算了d不同值时相对误差η随R变化关系,实验数据与理论吻合较好。  相似文献   

16.
用双参数法离散Morley有限元得到新单元,给出此单元的插值误差估计.并用此单元求解薄板弯曲问题,得到有限元误差估计.  相似文献   

17.
用测量不确定度分析方法,通过理论分析和数值计算,指出人工目测读数、动镜法线与移动方向不一致、M1和M2′不严格平行以及长度测量的A类测量不确定度是影响迈克尔逊干涉仪测量的主要因素,理论分析与实验结果符合。①M1和M2′严格平行时,若采用人工目测读数,则计数误差是最主要的影响因素,动镜法线与移动方向不一致以及urel(Δd)A也是较大影响因素,urel(Δd)B影响较小;②M1和M2′不严格平行,有微小的夹角θ,则ucrel(Δd)θ、urel(Δd)A以及urel(Δd)α,β三者为同一数量级,都是主要影响因素;③为提高测量精度,首先要提高干涉条纹计数精度,同时要调整M1和M2′严格平行,且动镜法线与移动方向保持一致。在空气膜厚d20 mm区域测量,不宜在d=0 mm附近区域测量。  相似文献   

18.
对迈克尔逊干涉仪使用过程中出现的异常干涉图样:椭圆变形,干涉圆环的“冒出”或“缩进”与预期相反等现象进行了分析,并提出相应的处理办法。  相似文献   

19.
讨论了迈克尔孙干涉实验中产生的干涉条纹形状及形成的原因,介绍了调出等倾干涉条纹和等厚干涉条纹的正确实验方法,以纠正学生在实验中可能发生的常见错误。  相似文献   

20.
迈克尔逊干涉仪测量薄膜的折射率与厚度   总被引:2,自引:0,他引:2  
用迈克尔逊干涉仪测量薄膜折射率与厚度的方法,原理简单.通过测出动镜的移动量及观察相应的干涉条纹变化现象,就能计算薄膜的厚度,有较高的测量精度.并基于此装置进行实际测量,理论和实际相符的较好.  相似文献   

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