大功率半导体激光器散热研究综述

在我国最近的几年时间里,半导体激光器所应用的功率逐渐升高,所以相应引发的散热情况成为了目前阻碍半导体激光器进一步发展的最大原因。由于机器芯片的升温最终会使得激光器的工作性能不断降低,想要使得半导体激光器能够在大功率的工作原理下依旧保持持续稳定的工作性能,就只能让芯片的工作得到很好的散热,经过对半导体激光器中的芯片升温现象对半导体激光器各项功能的影响程度分析,得出了芯片升温对半导体激光器有着非常重要的影响。本文根据半导体激光器在芯片升温中出现的问题进行了探讨,对如何解决这一问题提出了方法。     

微微秒半导体激光器及其应用

一、前言半导体激光器自1970年实现室温连续工作以来,作为光纤通信用光源,进行过大量的研究、改良工作,至今不仅已应用于视频磁盘、DAD、激光复印机等民用机器,还发展成为光信息处理用光源。无论对于大信息容量光通信,还是对于超高速信号处理来说,半导体激光器都具备高性能与长寿命,优于其他激光器。尽管目前已开发成功的固体激光和染料激光装置可以产生Ps、fs(10~(-15)秒)光脉冲,最高水准为8fs。但这些装置系统庞大、调整困难、成本又高,不能适应日益发展的信息化要求,作为Ps激光脉冲源,要求小型、轻便、廉价并且可以集成化。因此,半导体激光器是最适合、最有竞争力的微微秒激光脉冲源。     

我大功率半导体激光器“刺破”国外技术壁垒

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所王立军研究员带领的课题组,攻克了大功率半导体激光器关键核心技术,成功开发出千瓦量级、高光束质量、小型化的各种半导体激光光源,并将成为工业激     

大功率半导体激光器模拟负载及老化系统的设计

目前,在半导体激光器领域,国内外厂商及研究机构更多的关注于千瓦级半导体激光器的结构研究及系统应用研究。随着千瓦级半导体激光器的广泛应用,科研与生产都需要尽快解决高效率的驱动与控制系统的模拟测试与老化问题。在我公司的实际生产中,对应每一种型号的激光器驱动系统都制作了一套模拟LD巴条的二极管阵列老化测试装置。避免了采用真实LD巴条带来的风险。但这种装置通用性差,且不适合进行长时间的老化测试工作。为了解决通用性差和长时间老化负载过热的问题,进而设计制造了一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。解决了千瓦级激光器驱动系统的大批量老化测试问题。     

大功率半导体元器件可靠性分析

半导体元器件在电子学方面占有重要地位,原因是重量轻、体积较小、功耗低、具有较高可靠性。但是,由于构成设备和系统功能较复杂,器件的数量增多,且使用环境比较严酷,导致器件工程退化和失效现象比较普遍。本文介绍了大功率半导体元器件可靠性的意义、内容、失效分析及可靠性筛选。     

半导体激光器温度特性研究

半导体激光器是功耗型有源器件,工作过程中的温升对其输出特性会有明显影响。采用热敏电阻作为温度敏感元件,对半导体激光器的温度变化特性进行了测试与分析。测试结果表明,自加热效应对半导体激光器的功率输出特性影响明显,其斜率效率的变化率为Δη=0.022V/℃。     

半导体激光器的驱动电路设计

对于半导体激光器而言,其输出功率的稳定性是评价其性能的最重要的参数。设计了一种半导体激光器驱动电路,并进行了测试,测试表明加入温度控制部分之后激光器输出功率的稳定度得到了明显提高,功率稳定度达到1.75‰。     

超声波扫描技术在大功率半导体制造工艺中的应用

本文通过介绍超声波扫描技术的工作原理、测试方法,利用实验对大功率器件进行现场C扫描测试分析,来诠释其在大功率半导体器件生产过程中的重要性,有效帮助我们判断器件焊接状况的可靠性,进而保证出厂芯片的合格率。