基于ISE的AlGaN/GaN HEMT的C-V 转移特性模拟

主要叙述了在ISE软件平台上对AlGaN／GaN HEMT的转移特性以及C—V特性的模拟．首先实现了通过引入δ掺杂层的方法对器件的极化效应的模拟．其次,在此基础上改变了的AlGaN／GaN HEMT中spacer层的厚度,分别模拟了器件的转移特性和C-V特性．从结果得知,随着spacer层厚度的增加器件的跨导和电容均有所降低,所以应该在不同的应用领域选择不同的spacer层厚度．     

AlInGaN/GaN异质结构材料生长及特性研究

AlInGaN四元合金具有独立控制禁带宽度和晶格常数的特性,利用这一特性可以实现性能更为出色的异质结构材料．利用MOCVD技术生长获得了AlInGaN／GaN异质结构,通过汞探针C—V测量和Hall效应测量,发现其电学特性明显优于常规AlGaN／GaN异质结构,通过XDR和AFM分析,发现其势垒层结晶质量十分出色,但表面形貌与常规异质结构相比还存在一定差距．     

基于前馈结构的直流电机参数及模型测量

在直流电动机带负载条件下,研究直流电动机参数及其模型的测量问题.提出一种基于前馈结构的直流电动机参数与模型的测量方法;给出该结构下直流电动机参数及模型参数的测量原理、方法和步骤;通过仿真实验与分析,验证了该测量结构与方法的有效性和实用性.结果表明该方法结构简单、易于实现和操作,且测试精度较高,适合在工况条件下对直流电动参数及模型进行实地测量与建模.     

含天然气水合物多孔介质电参数测量系统的仿真实验研究

以天然气水合物在多孔介质中生成、分解过程的科研项目为背景,将含水合物介质电参数测量系统部分研究内容引入实验教学,设计了基于有限元数值法的含水合物多孔介质电参数测量仿真实验。基于反应釜及复电阻率测量装置建立数值模型;采用全波有限元方法对模型中的电磁场进行仿真计算并获得空间电磁分量分布;通过设置不同尺寸的水合物,结合仿真结果后处理,得到不同水合物分布对应的视电学参数。     

GaN极性和Al组份对AlcGa1-cN/GaN双异质结IMPATTD性能的影响

GaN基碰撞雪崩渡越时间二极管(IMPATTD)是前景光明的太赫兹波源,具有输出功率高、 转换效率高、体积小、集成方便等优点．构建了GaN /Al_cGa_1-cN/GaN和Al_cGa_1-cN/GaN/Al_cGa_1-cN双异质结构(DHS)n⁺/n/i/p/p⁺型IMPATTD,通过求解半导体器件基本方程(包括泊松方程、电流密度方程和载流子连续性方程),仿真了工作于大气低损耗窗口频率0.22 THz处的IMPATTD,计算了所设计器件的直流参数(如电场分布、归一化电流密度、击穿电压等)、大信号参数(如端电压、雪崩电流密度、 端电流密度、导纳-频率关系、输出功率、转换效率等)和噪声特性参数(如噪声场分布、噪声谱密度和噪声测度等),分析了GaN极性和Al组份对Al_cGa_1-cN/GaN DHS IMPATTD性能的影响．本文提出了一种优化Al_cGa     

改进大型主变直流电阻测试方法提升测试效率

随着电力需求的不断增加,新建变电站数量增长迅速,大型主变直流电阻测试是变压器是否具备投运条件的关键参数,以往的大型主变直流测试方法,直流电阻测量耗时长,经常发生试验设备过载发热而被迫中止试验现象,且耗时过长,通过改进大型主变直流电阻测试方法,大大提升了大型主表直流电阻测试效率.     

有机光电材料载流子迁移率的研究方法与技术

测量有机光电材料的载流子迁移率,有助于了解载流子在有机光电器件中的传递机制。通过对几种有机光电材料载流子迁移率的测试方法详细的阐述与对比分析,深入理解各种测试技术的原理,有助于学生掌握各种测试技术的实验方法,总结出各种测试技术的优劣及适用性,对研究载流子在有机光电材料中的传输特性及有机光电器件的性能具有重要意义。     

基于polyMAX的白车身锤击实验模态及灵敏度分析

针对传统模态分析方法的缺陷,采用polyMAX方法对某轿车白车身进行脉冲锤击法模态试验研究。首先建立白车身结构的测试系统模型,采用polyMAX方法进行试验模态特性分析,计算模态参数MAC值,并基此对车身结构进行灵敏分析。结果表明,模态测试系统满足精度要求,参数辩识结果有效可靠,结构参数的变化对车身结构的动态特性有较大影响,主要在于结构的质量和阻尼变化。     

仿真软件Multisim2001的高级分析功能及其应用

简要介绍了Multisim2001的高级分析功能以及参数扫描分析方法和直流扫描分析方法在电路中的具体应用。通过两个实例,整流滤波电路和晶体管输入、输出特性曲线的测试,说明了该软件使用方便,效果直观,能很好地应用于电子技术的教学。     

数字集成电路参数测试仪的设计

以AT89C51单片机为核心设计了一种简易数字集成电路参数的测试仪器。测试仪采用多值参数比较法,利用单片机的数学运算和控制功能,对数字IC进行功能测试,同时完成各项直流参数测试,并通过8279键盘控制来实现测量中的量程自动切换及各路测试项目的参数显示。