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相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 156 毫秒
1.
对牛顿环等厚干涉和薄膜等倾干涉条纹形状、干涉级次以及膜厚改变和复色光照射时的情况作了比较分析.  相似文献   

2.
讨论了迈克尔孙干涉实验中产生的干涉条纹形状及形成的原因,介绍了调出等倾干涉条纹和等厚干涉条纹的正确实验方法,以纠正学生在实验中可能发生的常见错误。  相似文献   

3.
通过分析空气劈尖的直线型等厚干涉条纹到牛顿环的圆环型等厚干涉条纹的逐渐演变过程,解释了劈尖干涉条纹及牛顿环干涉圆环分布的特点.证实了劈尖干涉和牛顿环干涉产生机理的一致性,即两种干涉均属于分振幅薄膜干涉-等厚干涉,这在一定程度上是对目前国内常见《光学》教材中薄膜干涉-等厚干涉相关内容的补充和完善,加深了学生对分振幅薄膜干涉-等厚干涉原理的理解,教学效果明显提高.  相似文献   

4.
本文介绍用几何光学方法进行等倾干涉条纹教学的一种方案,它能直观地解释圆条纹的形成和条纹分布规律与射角i等的关系。  相似文献   

5.
“等倾干涉条纹定域于无穷远处”,这是许多教科书给出的结论。本文通过点光源在均匀薄膜上产生的等倾干涉的讨论,说明上述结论不适用于点光源产生的等倾干涉,结论是:点光源产生的等倾干涉条纹定域于包括薄膜表面的上半空间。  相似文献   

6.
单色扩展光源引起的等倾干涉条纹的形状,在焦平面平行于薄膜时干涉条纹是一组同心圆。一般情况下,当焦平面不平行于薄膜时干涉条纹是圆锥曲线族。干涉条纹由内向外依次为椭圆、抛物线、双曲线。  相似文献   

7.
从条纹形原理以及用数学推导方法 ,讨论了等倾干涉条纹与牛顿环的异同 ,并介绍了实验鉴别方法  相似文献   

8.
本文从探讨光密膜等倾干涉圆条纹线半径的直观数学描述入手 ,讨论等倾干涉圆条的分布特征 ,使得等倾干涉条纹的图象直观化、具体化 .将这一数学描述应用于光疏膜这种实际情况 ,结合光疏膜的物理实质 ,从而揭示出光疏膜等倾干涉圆条纹的独有分布特征 ,并指出其可能的应用 .  相似文献   

9.
试论等倾干涉条纹与牛顿环之异同   总被引:1,自引:0,他引:1  
从条纹形原理以及用数学推导方法,讨论了等倾干涉条纹与牛顿环的异同,并介绍了实验鉴别方法。  相似文献   

10.
周杰  徐满平 《嘉应学院学报》2006,24(3):27-29,33
从光波的空间相干性出发,由衍射理论证明扩展光源具有“相干面积极小”的特点,指出扩展光源相干面积实际上就是“散斑”,在非激光束照明时,由于色模糊存在,这些“散斑”是无法观察。利用此结论可解释扩展光源照明情况下,等倾干涉及等厚干涉条纹的定域性。并指出如果把扩展光源换成激光束,等倾干涉及等厚干涉条纹将不再定域。  相似文献   

11.
在分光计上可观察到等倾干涉图样随入射我不同而变化的现象,本文介绍观察这一现象的方法,并对此现象的成因作简要分析。  相似文献   

12.
运用MATLAB的模拟功能,对迈克耳逊干涉仪的等倾干涉图样和强度计算机进行模拟,分析了等倾干涉强度与相关参数的关系;进而帮助读者更加清晰地理解等倾干涉的性质和干涉理论.  相似文献   

13.
用类似归纳的方法讨论了物理各种光源的等倾干涉,在讲述过程中把光线的倾角适度“量化”处理,便讲述思路清晰、条理清楚,因此对等倾干涉的理解也与更容易,透彻.  相似文献   

14.
本文给出了等厚干涉牛顿半环,分析了薄膜台阶产生的反射牛顿半环,并给出了利用牛顿半环测薄膜厚度的方法。  相似文献   

15.
运用光的多光束干涉理论,分别讨论了点光源在薄膜厚度均匀和不均匀情况下的条纹及性质;在考虑观光束干涉的情况下,导出测量平扳楔角的公式;对结果的准确性进行了分析,并给出实验结果。  相似文献   

16.
利用图形用户界面(GUI)和MATLAB的模拟功能,对等倾干涉图样和强度进行模拟,在PC机上实现了迈克耳逊干涉仪等倾干涉的模拟演示.  相似文献   

17.
为了实时监测光学薄膜的厚度,设计和制作了一款照明和采集干涉图谱为一体的石英光纤束探头,基于光学多道分析器、白色LED光源和计算机等设备组成,实现高精度监测薄膜厚度的测量系统.以薄膜等厚干涉原理为依据,分析了干涉相消波长测量薄膜厚度的原理与可行性.用汞灯标准谱线对光学多道分析器进行定标,通过自制的石英光纤束探头照明和采集干涉图谱,经光学多道分析器与计算机处理获得薄膜反射干涉相消光波长,计算得到光学薄膜厚度.测量系统通过对手机屏幕贴膜和不干胶薄膜样品的涂层厚度测试,可以监测纳米量级的薄膜厚度.  相似文献   

18.
大学物理中,计算等厚干涉形成的条纹数目时,经常采用计算相邻两明(暗)纹的间隔数,然后条纹间隔数即等于条纹数。多年的教学实践表明采用上述方法计算明、暗条纹数,物理意义不很清晰,特别是学生不易掌握。文中提出了采用加强和减弱条件计算明、暗条纹数的方法,该方法意义明确,学生更易于接受。  相似文献   

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