高电荷态离子129Xe29+与Au表面作用产生的X射线谱

研究了高电荷态离子129Xe29 入射金属Au表面产生的X射线谱。分析结果表明,足够高的电荷态低速离子激发靶表面原子,无需很强的束流强度,便可有效地产生重原子的特征X谱线(Au-Mα),特征X射线的幅度和产额随入射离子的动能的增加而增加。     

40Ar15+轰击金属表面的X射线发射谱

报道了利用兰州重离子加速器国家实验室ECR离子源引出的全裸Ar15 离子与Be和Mo固体表面相互作用产生的X射线实验测量结果。结果发现,同样条件下,对于较重的靶原子容易激发其外壳层特征X射线,产额很高。     

高电荷态Ar^q＋离子与固体表面相互作用的X射线谱研究

综述了低能高电荷态Ar^q＋离子与不同金属表面相互作用时,入射粒子和靶原子发射的X射线谱研究。重点分析了q=16时,高电荷态Ar^16＋离子与金属表面相互作用过程中发射Ar的Kα特征X射线的机理,以及q=17,18时入射粒子单粒子X射线产额等问题。分析总结了核电荷数不同的金属靶原子受激发射X射线的机理,以及入射离子的动能跟靶原子X射线产额的关系。展望了预期的研究方向。     

高电荷态离子入射Ta表面形成的靶原子的特征光谱线

报道了用动能一定而电荷态不同的^40Ar^9 离子和动能不同的^40Ar^6 离子入射金属Ta表面，靶原子受激辐射发出的200—1000nm波段的特征光谱线的实验结果。实验结果表明：高电荷态离子所激发的靶原子的谱线强度与入射离子的电荷态密切相关，与靶原子的入射动能没有强的相关性。     

40Ar10+激发半导体功能材料P-Si表面的激发光谱

报道了用ECR离子源的高电荷态离子~(40)Ar~(10 )入射到p型Si表面的实验研究,通过实验测量到的Si原子和Si~(2 )离子的200nm-1000nm光谱,研究了谱线产生的机理。实验结果表明:低速高电荷态离子与固体表面相互作用中,可有效地激发原子和离子的特征谱线,分析了这一现象和相互作用过程的发光机理。     

^40Ar^10＋协激发半导体功能材料P-Si表面的激发光谱

报道了用ECR离子源的高电荷态离子^40Ar^10 入射到P型Si表面的实验研究，通过实验测量到的Si原子和Si^2 离子的200nm-1000nm光谱，研究了谱线产生的机理，实验结果表明：低速高电荷态离子与固体表面相互作用中，可有效地激发原子和离子的特征谱线，分析了这一现象和相互作用过程的发光机理。     

类氢高离化态软X射线谱精细计算的简捷方法

利用高离化态类氢离子电离能与电离度的关系及类氢离子的新势函数模型 ,对离子激发能级进行了相对论效应修正并计及了电子自旋轨道耦合的影响 .给出了计算高离化态类氢离子软X射线谱的简捷方法 ,计算结果与实验值吻合较好 .     

低能重离子激发靶原子内壳层X射线的空穴产生机制

在重离子与靶原子直接碰撞导致原子内壳层空穴产额与离子入射动能关系的基础上,计算了单离子入射引起的原子间碰撞产生的原子内壳层空穴产额。给出了低能重离子与靶原子碰撞过程,原子内壳层X射线单离子产额与离子动能的关系。较好地解释了动能300~600 ke V的Xe^27＋离子入射Mo靶,激发的Mo的L X射线的实验结果。     

粉煤灰中硫形态的X射线荧光光谱法初探

X射线荧光光谱法的熔融片法测量粉煤灰中硫时,对不同制样(熔样)方法,硫分析有一定差异。本文用X射线荧光光谱法对粉煤灰中硫的价态做了分析测量,以尝试找出粉煤灰中硫在制样以及测量分析中不稳定的原因。     

晶体的X射线衍射谱仿真与实验研究

为了获取晶体初始X射线衍射谱,开展了晶体物质X射线衍射谱的仿真与实验研究。基于X射线衍射原理构建了晶体的X射线衍射谱仿真理论模型,仿真了Cu、Si和NaCl晶体的衍射强度分布,计算得到了晶体在5°和10°衍射角度时的衍射能谱。搭建了X射线衍射实验平台,实测了NaCl单晶的衍射能谱,校验了仿真模型,实测谱对应的能量和强度与仿真结果一致。解决了晶体的初始衍射谱受到仪器测量误差影响的问题,为晶体初始衍射谱的获取提供了一种有效的方法。