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样品的倾斜度对椭偏法测量薄膜参数的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
为了研究薄膜样品的倾斜程度对椭偏法测量薄膜参数的影响,运用椭偏法测量原理及Matlab软件,分析与计算了薄膜样品的倾斜度对测量薄膜参数的影响程度,结果表明这种影响是很小的,并通过实验验证了理论分析与实验结果是相符的。为迅速调整好椭偏仪提供了理论和实验依据。 相似文献
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详细介绍了使用椭偏仪测定薄膜的光学常数的原理,采用溶胶一凝胶法在普通载玻片上制备了均匀透明的TiO2薄膜,借助椭偏仪测量了薄膜的光学特性. 相似文献
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郭雁文 《雁北师范学院学报》2008,24(4)
通过对国外几种自动数字屈光度仪的研究和分析,提出了一种数字屈光度仪的光学原理,推导出眼镜片屈光度的计算公式,为我国数字屈光度仪产品的进一步研发奠定了基础. 相似文献
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《实验室研究与探索》2013,(10)
基于不同类型的保偏光纤其保偏特性各不同,设计了一套测量偏振光经光纤传输后其偏振状态的实验装置,对普通单模光纤,领结型、椭圆型保偏光纤的传输特性进行了测量。得到3种光纤输出光功率和偏振角度之间的关系,根据实验结果计算了保偏光纤的消光比,并从理论上分析了影响光纤偏振保持能力的因素。由于保偏光纤具有模式双折射,使输入光所携带的信息保持不变,这种特性拓展了光纤器件的应用领域,为高质量的光纤通信提供了保障。 相似文献
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《实验室研究与探索》2017,(3):59-62
设计了一种波动光学综合测试教学仪器,介绍了该测试仪器的设计方案及使用该测试仪器所进行的实验项目,包括双缝干涉实验、单缝衍射实验、圆孔衍射实验、光栅衍射实验、偏振光实验、验证马吕斯定律、测定布儒斯特角等。它适用于波动光学教学使用,也可以提供给学生做基础性实验和验证性实验。这套实验仪器的设计优点是:只用一套实验教学仪器就可以完成上述所有实验项目的演示和测量,综合性强,使用方便,造价低,光路外漏、直观,实验现象明显,易于学生理解。 相似文献
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双光束双波长激光干涉(DDI)法采用自行设计的可测双波长氦氖激光器作光源,可在同一光路中通过二次测量获得薄膜样品两个波长(0.633μm,3.39μm)下的光学常数,即折射率、消光系数和厚度,文中论述了调量原理、测量装置和测量结果. 相似文献
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采用VHF-PECVD技术制备了两个气压系列不同生长阶段的微晶硅薄膜,通过椭圆偏振技术研究了生长过程中微晶硅薄膜表面粗糙度的演化.实验结果表明:沉积气压Pg=70 Pa时,生长指数β=0.22±0.023,对应有限扩散生长模式;Pg=300 Pa时,β=0.81±0.099,其超出标度理论中β最大值为0.5范围,出现异常标度行为,表明:在微晶硅薄膜生长中还要考虑其它粗糙化因素(如阴影作用会增加薄膜表面的粗糙化程度,使生长指数β增大). 相似文献
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反射式RAP型椭圆偏振光谱仪及其应用 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了椭圆偏振测量的基本物理原理。基于目前教学型椭圆偏振光谱仪多为单波长消光式,而且自动化程度不高,测量误差较大等现状,提出了一种反射式同时旋转起偏器和检偏器的动态光度式全自动椭圆偏振光谱仪,包括其工作原理与系统结构,最后,阐述了该光谱仪的实验应用结果。实验系统结构简单、集成度高、成本低、精度高、易于操作。 相似文献
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多晶硅薄膜晶化率对暗电导率的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
陈城钊 《韩山师范学院学报》2004,25(3):61-64
采用氢等离子体加热的方法晶化a—Si:H薄膜制备多晶硅薄膜.用Raman散射谱进行结构表征和分析,研究了薄膜晶化率对暗电导率的影响.结果表明,暗电导率随着晶化率的增大而逐渐增大.提出了一个简单模型解释了这一现象, 相似文献
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在常规实验装置的基础上设计安装了一个光具架,由此制成了一种多功能薄膜干涉实验装置。在该装置上不仅可以完成常规的牛顿环实验,还可完成劈尖干涉实验和多种扩展实验,解决了在单一薄膜干涉实验装置上只能完成一种实验的弊端。 相似文献
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太阳能电池是当今世界发展最迅速,最有潜力的新兴能源之一,为缓解能源危机提供了一种切实可行的方法。本文首先介绍了目前国际上研究较多的几种太阳能电池,然后分析并总结了不同薄膜太阳能电池在制造成本、生产工艺、转换效率、耐用性、产品厚度等方面的优缺点及发展趋势。可以预见,随着新技术、新结构的不断创新,太阳电池的成本、转换效率和稳定性将不断提高。 相似文献