X射线珍珠珠层厚度无损检测仪夹具的改进研究

珍珠珠层厚度能无损、快速、广泛推广的检测方法目前主要有X射线法和光学相干层析法。X射线珍珠珠层厚度无损检测仪具有较强的穿透能力,其适用范围更加广泛。因X射线珍珠珠层厚度无损检测仪夹具设计上的不够合理,不能快速找出不同大小尺寸珍珠的几何中心。在夹具的设计上进行改进,提高了工作效率及仪器的精度。