椭圆偏光法测量薄膜折射率和厚度的研究

本文介绍用椭圆偏光法测量薄膜折射率和薄膜厚度的方法，包括测量单层薄膜和多层薄膜的情况     

利用等色干涉原理测量薄膜厚度

文章讨论了等色干涉的原理,并利用该原理给出测量介质厚度的方法.     

迈克尔逊干涉仪测量薄膜的折射率与厚度

用迈克尔逊干涉仪测量薄膜折射率与厚度的方法,原理简单．通过测出动镜的移动量及观察相应的干涉条纹变化现象,就能计算薄膜的厚度,有较高的测量精度．并基于此装置进行实际测量,理论和实际相符的较好．     

分光计的调整对椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率的影响

该文用了两个不同的薄膜样品，在两台不同的分光计上，用不同的入射角对薄膜的厚度和折射率进行了测量，并通过比较实验结果，说明了在用椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率的实验中，分光计的调整对实验结果的影响是可以忽略的。     

迈克尔逊干涉测薄膜厚度

利用迈克尔逊干涉原理测量薄膜厚度的方法,以测量PE保鲜膜和透明塑料膜为例,采用白光干涉产生的彩色条纹来精确测量薄膜的厚度,通过采集干涉产生的实验数据,计算出薄膜的厚度,这是一种实用有效的方法.此方法的测量范围为1μm～1cm,测量精度为0.1μmn.     

基于薄膜干涉的研究

光学薄膜是现代光学仪器和光学器件的重要组成部分,它在各类光学系统中的应用极为广泛。传统的光学薄膜是以光的干涉为基础,并以此设计和制备增透膜、高反膜、滤光膜、分光膜、偏振及消振膜。本文根据薄膜干涉的基本原理,阐述了半波损失的条件和薄膜厚度的选取。     

薄膜的增透、增反作用与其厚度、折射率之间的关系

以单层薄膜为例 ,首先应用多光束干涉原理 ,推导出光强反射率公式 ,然后讨论薄膜的增透、增反作用与其厚度、折射率之间的关系。     

椭偏法测量薄膜厚度与折射率实验的若干探讨

作者利用光学实验中的常规仪器完成了椭偏法测量薄膜的厚度与折射率,探讨了减小误差,提高测量精度的措施.文中还对文献[2]中某些易于产生困惑之处做了分析并给出了合理的解释.     

椭圆偏振仪测量薄膜折射率及周期厚度解的分析

运用Mathematica,通过最优化理论开发迭代程序,计算SiO2、ZrO薄膜的折射率和单周期及多周期厚度,并与其他方法的计算结果进行对比分析,表明此方法计算结果可以达到较高的精度。通过分析椭偏参数和薄膜厚度的关系可知,一定厚度的薄膜材料存在一个最佳入射角,在该角度下测得的薄膜厚度具有最高的精度。     

用劈尖干涉测定液体折射率

依据等厚干涉原理 ,介绍用劈形薄膜表面上所产生的干涉现象即劈尖干涉测定液体折射率的方法 ,并给出测量结果 .     

测量气体折射率的方法研究

介绍了几种测量气体折射率的方法,并对它们进行了比较,同时提出了进一步提高测量精度的建议。     

迈克尔逊干涉仪测量折射率的实验研究

由迈克尔逊干涉仪实验中光程差的分析,得出了干涉条纹的吞吐变化的规律,并由此提出了一种新的测量折射率的方法;澄清了用白光干涉法测量折射率实验中的模糊概念;提出了一种用干涉原理测量介质色散的新方法．     

折射率公式的修正

在通常情况下,我们熟悉的折射率公式n=sinθ1/sinθ2=√ε,是在一定条件下才成立,当光通过介质的电导率不为常数或介质有吸收时,此公式不再适用,应利用麦克斯韦方程组及介质的边界条件对折射率公式n=sinθ1/sinθ2=√ε,进行修正．     

利用楔角测量薄介质折射率

介绍通过几何光学方法,利用楔角测量薄介质折射率,该方法具有简单快速的特点。     

折光率法测定苯酚-正庚烷相图和苯酚在若干溶剂中的浓度

发展了一种快速测量中等浓度苯酚的简明方法,对于在线检测具有一定实用意义。用折光率法测定了常压下45℃到60℃间苯酚在无水乙醇、正戊醇、氯仿、四氯化碳、正庚烷中的浓度和苯酚-正庚烷的部分相图。首先进行了方法可靠性和精密度验证。对环己烷-甲醇体系,进行了平衡时间与折光率测量,得出振荡2小时,静止1小时,折光率趋于稳定,误差小于0.05%,从而确定本装置下实验条件为恒温振荡2小时、静止1小时。我们对苯酚-正戊醇体系进行了回收率实验,实验表明回收率可达98.36%。测得45℃、52℃、60℃下的各组工作曲线,曲线表明折光率与溶质浓度在15%以下可用直线近似,在大浓度范围偏离线性关系。因此,在15%以下,可用线性关系求得溶质浓度,超过这一范围,必须用实测工作曲线,才能减少误差。从曲线的等间隔可以看出:同一浓度下,在小温度范围内,线性关系成立。作为实例,我们研究了苯酚-正庚烷体系,这是一个两相体系。首先测定了苯酚-正庚烷体系在两个单相区域的工作曲线。在15%浓度范围内都是一条直线,但它们的斜率竟差4倍。由不同温度下的工作曲线,得到了苯酚-正庚烷体系的部分相图。实验表明,用本方法测量中等浓度苯酚是一种简明、快速而有相当正确度的实用方法。     

利用光学外差技术同时测定透明板的折射率和厚度

通过分析圆偏振外差光束分别经透明板反射和透射后的s光和p光的相位差改变,得到了它们与透明板折射率和厚度的关系.利用改进的M-Z干涉仪设计和构建了能同时测定透明板的折射率和厚度的实验装置,通过测量从透明板反射的圆偏振外差光束的s光和p光的相位差,将测量数据代入理论上导出的特定方程,可以计算出被测透明板的折射率.同时,透明板又在改进的M-Z干涉仪的测量臂中,由波长偏移和光通过透明板引起s光和p光的相位差改变.由透明板折射率的测量值、相位差改变和波长偏移的特定值可得到透明板的厚度.从而实现在同一光学构造下完成对透明板的折射率和厚度的同时测量.     

利用全反射原理测定水的折射率

介绍一种利用全反射原理测定水的折射率的方法，实验中利用He—Ne激光束在水底产生点光源，根据全反射原理对水底的暗影和水深进行测量，求出水的折射率。     

负折射率的理论证明

最近的实验证明了人工合成负折射率材料的可能性。本文在实验基础上详细研究了这种物质介电常数ε和磁导率μ同时为负的条件与原因，并从理论上证明了它的折射率n为负值。