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基于基本路径测试的程序图自动生成的应用研究 总被引:1,自引:0,他引:1
解圣霞 《通化师范学院学报》2009,30(12):32-35
基本路径测试是一种重要的白盒测试技术,具有较高的故障覆盖率.自动生成程序图是基于基本路径测试的测试用例自动生成过程的重要步骤,该文主要描述了从源程序出发,通过对程序语法结构的分析,自动生成程序图的方法,并且通过构建原型系统,证明了该方法的有效性. 相似文献
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针对当前电子产品故障诊断难度大,通用性差的问题,设计一套完整的基于TPS的电路故障测试和定位的实现方案,给出方案的具体功能组成模块和实现过程,对算法进行深入的研究和分析,使得TPS生成算法能够快速有效地应用于电子设备电路故障测试和维修工作中。 相似文献
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65.
蒋勋 《无锡南洋学院学报》2006,(1)
VCD(ValueChangeDump)是半导体设计中产生的输入输出信号仿真文件,模式(Pattern)是半导体器件测试中用于输入输出的真实信号向量的集合,一般是由VCD编译而来,需要花费大量的时间和计算资源。在半导体测试程序开发中如何快速有效地进行VCD-模式的编译是一项重要的课题。本文提出用网格服务实现分布式VCD的编译,并给出了VCD分割算法的分析。同时也介绍了该网格系统的工作流程和部署。 相似文献
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本文在分析继电保护测试技术现状的基础之上,探讨了其在实际运用过程中暴露出的缺点,研究了结合人工测试方法,通过硬件和软件系统的设计,在生产领域测试中采用自动测试工具,实现智能闭环自动测试的新型继电保护自动测试系统。 相似文献
68.
雷达电子设备电路板目前存在检测难度加大、维修效率低、LASAR文件兼容性差、故障定位率低等诸多问题.本文在介绍LASAR软件、ScanWorks软件功能特点的基础上,给出了这两个软件在系统中的实现方法和应用,最终研制了一套基于仿真和边界扫描技术完成数字电路、超大规模集成电路测试诊断的综合检测系统,其可解决电路板维修保障难题,提高测试效率. 相似文献
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自动测试生命周期中,第四阶段到第六阶段,是一个自动测试过程,是围绕自动测试用例(Automated Test Case)进行的,其中第四阶段测试的计划、设计和开发对应了本文所作的工作。本文将以自动测试用例为中心,介绍自动测试用例组成,自动测试用例设计方法,编写自动测试用例所采用的脚本技术。 相似文献
70.
本文阐述了一个基于虚拟仪器的自动测试系统的设计,简单介绍了其中相关的虚拟仪器技术和GPIB总线技术,主要描述了GPIB总线接口以及虚拟仪器的相关软件设计实现。 相似文献