浅谈纳米传感技术的一些应用

纳米材料作为材料科学的重要部分,已发展成为一门高度交叉的综合科学技术,不断为化学学科带来了更多的可能.在简要概述纳米传感技术的基本概念、方法及原理的同时介绍了利用纳米传感器YVO4∶Eu3+探测酒精浓度,及而后发展的通用型气体传感器,利用光纳米传感器检测离子和生物探针传感器等相关研究结果并对纳米传感进行了展望.     

电阻探针腐蚀监测仪的开发与应用

基于电阻探针腐蚀监测的原理,研制了适合气田环境的ER400电阻探针腐蚀监测仪,其仪器电阻分辨率可达到0.5(腐蚀速率灵敏度达到了0.1m/a)。用其所研制的电阻探针腐蚀监测设备与实验室的电化学极化测试和靖边气田现场磁阻探针、挂杆失重试验相比,发现其测量的腐蚀速率与室内和现场测试结果十分接近。说明ER400电阻探针腐蚀监测仪器的可靠性,达到了国内外同等仪器的先进水平。     

提高石英音叉钨丝探针制作成材率

针对探针的腐蚀及粘接制约原子力显微镜实验开展的问题,提出一种制作原子力显微镜石英音叉钨丝探针的方法。通过对原有腐蚀装置的改进,提高了钨丝针尖的成材率;钨丝探针粘接装置的开发极大地避免了人为因素的干扰,提高了针尖粘接的效率。最后通过实验来验证腐蚀方法及粘接装置的可行性。     

应用地高辛标记的cRNA探针原位杂交法检测大鼠下丘脑生长抑素mRNA

用成年雄性Wistar大鼠,经4％多聚甲醛灌注固定,取下丘脑组织,行再固定24h,常规石蜡包埋和切片,用地高辛标记的cRNA探针进行原位杂交,结果显示在弓状核及其邻近区域见到阳性神经元,阳性信号为蓝色颗粒,胞质、核膜及核仁呈阳性。阴性对照均无阳性反应出现。本实验证实,用石蜡切片进行原位杂交组织化学研究,能检测下丘脑生长抑素神经元基因表达产物mRNA,方法稳定,重复性好,便于普通实验室开展工作。     

用地高辛标记的DNA探针进行无放射性原位杂交

组织切片、细胞染色体上DNA和RNA的原位杂交已逐渐成为细胞生物学的一种重要手段。最初这一方法用放射性同位素标记探针,用放射自显影来检测核酸,至今已使用了20多年,但这种方法存在许多不足之处:1.不宜暴露时间过长;2.放射性同位素的寿命有限;3.实验需在同位素室内进行,并且存在问题;4.放射自显影中,银颗粒通常扩散,不能在杂交靶点上直接精确定位。为了解决这一问题,逐渐建立了无放射性标记及检测系统,为原位杂交信号提供了快速可靠的信息,大多数系统涉及核酸分子的酶的、化学的、光化学的修饰,然后经与一个非放射性报告系统的特殊连结进行修饰探针的测定。与[~3H]标记的DNA探针相比,非放射性标记系统检测可以紧跟在原位杂交之后,杂交信号通常可在靶点上直接发现,并且可在不同的检测系统中看到,另外,探针可以贮存至少数年,并且在一些系统中,同标记的探针还可应用于southern blots和其它分子生物学程序中。     

可制造性设计（DFM）的实时质量检测

目前,一个动态的、全球化的和以客户为导向的市场给依赖响应速度和产品策略的公司同时带来了机遏和威胁。这些策略之一就是同步工程（CE）,它是一种着眼于提高产品开发过程的策略,它从早期的产品设计阶段就考虑到与产品生命周期紧密相关的各种因素。已经证明,可制造性设计（DFM）是一种能实施CE这一理念的有效方法：最近,在加工过程中,一种重要的可制造性设计概念（即实时检查）已同时引起学术界和工业界的重视,这是因为激烈的国内和国际竞争已经促使各方更加重视零部件的质量。以期缩短检测时间、提高零件精度以及减少废料。目前的方法是使用一台安装有触摸探针的机器来进行,但这种方法会受到限制,因为这样的话测量精度会受到机器的每个部件的定住精度和定位系统的影响。为解决这一令人关切的问题,所以进行了切削试验来收集触摸探针测量数据：然后对这些数据进行分析,以验证使用触摸探头来进行实时检测是否恰当。分析结果表明,与三坐标测量机（CMM）相比,触摸探针具有较高的能力指数和一致性,这表明触摸式探头可以作为一种手段被纳入DFM中,从而进行实时质量检查。     

CCS仿真软件中的文件输入输出方法

介绍了在CCS集成开发平台上,运用探针输入输出文件的方法,并通过一个实例详细说明了探针要求的文件格式和数据类型,以及其他数据类型的转换。     

荧光原位杂交技术及其在微生物生态学中的应用

介绍了荧光原位杂交技术的基本原理,讨论了该技术的操作程序及其在微生物生态学领域的应用。     

浅谈云安全

本文将对云计算技术进行简单介绍,探讨了云安全的特点、模式、现状及前景。     

扫描探针显微镜外接扩展Ⅰ/Ⅴ装置的设计与实践

近些年来,各种功能材料纳米区域的伏安特性得到越来越多的关注,并已有大量相关研究成果发布.这些科研的实验工作大多由扫描探针显微镜来完成,然而商用仪器的技术指标固定,提供的直流电压和电流的测量范围有限.通过对日本精工SPA-400扫描探针显微镜的Ⅰ/Ⅴ装置进行基于单片机系统的扩展二次开发,结合自行开发的软件包,大大提高了原系统的Ⅰ/Ⅴ测量范围,可适合多种晶体样本的测量.该设计避免了重新投入造成的成本浪费,值得推广采用.