扫描探针显微镜对硬盘磁畴形态和表面形貌的研究

通过磁力显微镜(MFM),采用不同的提升高度(LSH)对垂直磁记录硬盘磁畴形态和表面形貌进行了实验;单独采用常规AFM对同一硬盘区域进行了形貌考察,用来和MFM得到的形貌进行比较。实验证明:MFM实验时设置的LSH必须小于等于给硬盘写入磁信息时磁头的飞行高度才能够清晰分辨磁畴的形态;另外,由于磁力的存在造成了在使用MFM同时测定硬盘的磁畴形态和表面形貌时,产生了严重失真的表面形貌假象,必须另外通过常规AFM检测才能准确确定硬盘的表面形貌和粗糙度数值;这种形貌假象也是磁信息的一种变相体现,可以通过硬盘类光滑样品的MFM失真形貌图来间接辅助确定其磁畴的形态分布。