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面粉中滑石粉的X射线检验法   总被引：1，自引：0，他引：1  
采用X-射线衍射分析法检测面粉中滑石粉等有害物质,是利用矿物质与面粉的分子结构不同的特点,利用X射线衍射法快速确定面粉中含有的矿物质结构,直接检测滑石粉等有害物质结构.此方法具有快速、直接、准确的特点,有利于对大批量面粉中滑石粉等有害物质的快速检测.  相似文献   
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