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传统的基于环形振荡器的物理不可克隆函数(RO-PUF)因电压、温度、器件老化等影响,存在输出不可靠问题,即PUF输出随时变化,为了提高PUF的可靠性,提出一种针对PUF映射单元的稳定性测试方案.该方案选择多复杂度和多种频率的环形振荡器作为干扰源,放置在PUF原型电路附近对其进行干扰.通过识别和筛选掉不稳定的片,即识别和筛选掉使PUF结果不稳定的单元,来有效提高PUF的可靠性.实验结果表明,不同复杂度和不同频率的周围逻辑电路可以识别出不同数量的不稳定片,复杂度越高,识别出的不稳定片也越多.与最新发表的PUF文献相比,该PUF电路具有很好的统计随机性,资源消耗低.在温度变化为0～120℃和电压波动为0.85～1.2 V时,唯一性和可靠性分别达到49.78%和98.00%,从而使其能够更好地被应用于安全领域. 相似文献
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针对三维集成电路顺序堆叠测试成本高的问题,提出了一种用于绑定中测试成本降低的堆叠顺序优化方案.建立了新的测试成本模型,综合考虑了用于自动测试装备的测试时间和制造失效因素.提出了一种测试成本堆叠顺序和测试时间优化算法,通过约束测试带宽、测试功耗等条件,得到最小的测试成本和对应的最优堆叠次序.为了证明优化堆叠顺序对测试成本的影响,以金字塔型和倒金字塔型2种顺序堆叠作为比较基准并进行了比较.基于ITC’02电路,实验结果表明,对于5层的三维集成电路,在不同的约束条件下,优化的堆叠顺序测试成本相比于金字塔顺序堆叠平均可以减少13%,相对于倒金字塔顺序堆叠平均减少62%.此外,随着堆叠数目的增加,优化的堆栈顺序可节省更多的测试成本. 相似文献
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