全息照相实验相关问题的理论探究

通过数学推导得出光强、条纹间距及反衬度等重要概念的公式,并计算光强比与反衬度,干涉光夹角与条纹间距之间数量上的对应关系,分析得出光强比及物光与参考光夹角的取值,最后指出了一个影响光学平台稳定性的因素并给出解决方案.     

谱线线型对双光干涉的影响

考虑实际光源所发出的谱线的几种基本线型：洛仑兹线型、高斯线型和综合加宽机制下的综合线型的双光干涉．导出了这几种线型的谱线的双光干涉强度和反衬度公式,揭示了不同谱线线型双光干涉强度和反衬度随光程差、谱线宽度的变化规律．研究表明,常规的根据平顶型线型反衬度为零对谱线相干长度的定义对实际的线型仅是近似的;在考虑取一定反衬度误差的条件下,给出采用平顶型这一近似的模型代替实际谱线的判据．     

杨氏干涉装置中对光源宽度的限制

从杨氏干涉条纹的光强分布,干涉条纹的反补度推出了杨氏干涉装置中的光源宽度的极限值。