排序方式: 共有21条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
A profilometer used for 3 dimension measurement of micro-surface topography is presented. The instrument is based on the vertical scanning microscopic interferometry (VSMI). A Linnik type interference microscope is used and the interferograms which present changes of surface profile are recorded with a CCD camera. A developed nano-positioning work stage with an integrated optical grating displacement measuring system realizes the precise vertical scanning motion during profile measurement. By a white-light phase shifting algorithm of arbitrary step, frames of interferograms are processed by a computer to rebuild and evaluate the measured profile. Because of the specialty of VSMI, the profilometer is suitable for both smooth and rough surface measurement. It can also be used to measure curved surfaces, dimension of micro electro mechanical systems (MEMS), etc. The vertical resolution of the profilometer is 0.5 nm, and lateral resolution 0.5 μm. 相似文献
2.
3.
根据全息干涉度量技术提出了一种定性观测场的方法-双曝光干涉法,进一步说明了其在实验教学中的价值。 相似文献
4.
新兴行业发展过程中,在不同的发展阶段会出现不同的问题;不同的问题需要不同的策略来解决。正确认识企业目前的发展阶段是制订企业战略的前提。开展梯度营销是企业获得利润的必不可少的营销手段。 相似文献
5.
苏永江 《中国校外教育(理论)》2008,(2):112
近年来,激光测量干涉技术的研究受到越来越多的重视,特别是随着现代工程技术的飞速发展,高精度的低频微小振动测量已经成为目前工业和科学发展中迫切需要解决的问题.在综合考虑了众多高精度测量方法的基础上,本文提出了一种用于激光测量干涉技术的改进型迈克耳逊激光干涉仪. 相似文献
6.
7.
邢进华 《常熟理工学院学报》2011,25(10):76-79
通过分析圆偏振外差光束分别经透明板反射和透射后的s光和p光的相位差改变,得到了它们与透明板折射率和厚度的关系.利用改进的M-Z干涉仪设计和构建了能同时测定透明板的折射率和厚度的实验装置,通过测量从透明板反射的圆偏振外差光束的s光和p光的相位差,将测量数据代入理论上导出的特定方程,可以计算出被测透明板的折射率.同时,透明板又在改进的M-Z干涉仪的测量臂中,由波长偏移和光通过透明板引起s光和p光的相位差改变.由透明板折射率的测量值、相位差改变和波长偏移的特定值可得到透明板的厚度.从而实现在同一光学构造下完成对透明板的折射率和厚度的同时测量. 相似文献
8.
采用外差式原理,以单片机为核心,辅助以FPGA等设计并实现频谱分析仪。系统由3个模块组成:混频模块、信号采集模块、频谱图显示模块。采用多次混频技术,避免混频器因输入频差小带来的频率牵引现象。扫频信号采用DDS信号合成技术和倍频来获得。被测量信号使用宽带放大器处理。信号采集模块对混频后的中频信号进行AD采样,将采样数据存入FPGA;采样数据经单片机处理后送给FPGA,由FPGA利用示波器的XY通道完成频谱图显示;单片机通过对采集到的数据进行分析来判定波形。 相似文献
9.
10.
利用6阶分圆类构造外差族,得到几类GF(q)上参数为(6f+1,2f,4f,)3的外差族,其中g=6f+1为奇质数幂,f为偶数. 相似文献