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| 集成电路中混合信号的测试 | |
| 引用本文： | 王青萍.集成电路中混合信号的测试[J].培训与研究,2009,26(2):86-89. |
| 作者姓名： | 王青萍 |
| 作者单位： | 湖北第二师范学院,物理与电子工程系,武汉,430205 |
| 摘 要： | 集成技术的进步特别是混合信号电路的发展，对混合信号测试的技术研究提出了迫切需求和巨大挑战。本文详细介绍了混合信号测试设计的故障诊断和各种测试方法，比较了各自的优缺点，并对混合信号测试技术未来的发展作了展望。 |
| 关 键 词： | 混合信号 故障诊断 DFT BIST 测试总线 扫描测试 |
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