超小型密封继电器触点失效的分析研究

本文以合格及失效的超小型密封继电器为研究对象,采用扫描电子显微镜对触头的表面形貌进行了分析研究,并运用四极质谱分析系统对超小型密封继电器内部的气氛进行了分析,结果表明:失效的密封继电器内存在着较多的水蒸汽和气体磷化物,其触头表面受到严重冲击磨损,污染产重;在合格的不同密封继电器内,触头表面也受到污染,其接触可靠性下降,密封继电器的寿命随之缩短。文中对触头污染的来源进行了分析与讨论。