基于互补相容数据块编码的测试数据压缩方案 |
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作者姓名: | 商进 |
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作者单位: | 无锡职业技术学院控制技术学院,江苏 无锡,214121 |
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基金项目: | 黑龙江教育厅科学技术研究项目(12531565)。 |
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摘 要: | 针对集成电路芯片测试数据快速增长的特点,提出了一种有效的测试数据压缩方案。该方案将测试数据根据不通特点分组,用一种定长的二进制代码来代替分组后的测试数据。同时给出了一种关于该测试数据压缩方案的解压缩电路,实验结果表明,该方案能显著提高压缩率。
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关 键 词: | 测试数据压缩 编码 相容数据块 解压 |
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