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| SiC-(X2∑+)光谱属性的B3LYP研究 | |
| 引用本文： | 许永强.SiC-(X2∑+)光谱属性的B3LYP研究[J].赣南师范学院学报,2009,30(3). |
| 作者姓名： | 许永强 |
| 作者单位： | 赣南师范学院,物理与电子信息学院,江西,赣州,341000 |
| 基金项目： | 赣南师范学院自然科学研究课题 |
| 摘 要： | 选择6-311++G(2df,2pd)、6-311++C(3df,3Pd)、cc-PVDZ、AUG-cc-PVDZ、cc-PVTZ、AUG-cc-PVTZ基组,应用密度泛函理论的B3LYP方法,对SiC-(X2∑+)的光谱常数和分子属性进行了详细的理论研究.同时讨论了采用不同基组计算得到的光谱常数和分子属性的数据,并与文献报道的实验与理论数据进行了比较.结果发现,对于SiC-(X2∑+),采用B3LYP/AUG-cc-PVTZ方法的计算结果与文献报道的数据吻合的最好.部分光谱数据还是第一次给出理论报道. |
| 关 键 词： | 光谱常数 分子属性 |
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