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| 主成分回归--四阶导数光谱法用于钼、钨的同时测定 | |
| 作者姓名： | 司圣柱 吴庆生 |
| 作者单位： | 1. 安徽教育学院化学系,安徽,合肥,230061 2. 同济大学化学系,上海,200092 |
| 摘 要： | 本文将主成分回归法用于解析钼、钨与SAF-CTMAB形成配合物体系的四阶导数光谱数据,以实现对钼、钨的同时测定.探讨了主因子数、校准集样品数对校准结果的影响;对合成样品进行分析,结果与加入值相当吻合.当M0:W为1:10～10:1时,二者的相对误差一般在±10%之内,对于Mo:W为1:40,且Mo的含量低至2×10-6μg·L-1的样品仍可获得满意的结果. |
| 关 键 词： | 主成分回归法 四阶导数法谱法 钼 钨 分析化学 导数分光光度法 测定 含量 |
| 文章编号： | 1001-5116(2002)03-0048-03 |
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