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| 基于STM32的简易电路特性测试系统设计 | |
| 引用本文： | 秦绍明,程登良.基于STM32的简易电路特性测试系统设计[J].绵阳师范学院学报,2022(11):20-26. |
| 作者姓名： | 秦绍明 程登良 |
| 作者单位： | 湖北汽车工业学院电气与信息工程学院 |
| 基金项目： | 湖北省重点实验室开放基金项目(ZDK1201409)； |
| 摘 要： | 设计了一种基于STM32单片机控制的简易电路特性测试系统.被测电路测试板是分压式共射极三极管放大电路.测试系统采用外部DDS模块AD9851作为信号源，为被测电路提供0～1 V幅值、1 Hz～180 MHz频率、步长为1 Hz的标准正弦测试信号.该测试信号进行放大或衰减等预处理后得到Vi,输入到给定的被测电路测试板.测试板输出响应信号Vo,使用仪表放大器和OP放大器设计信号采集处理电路进行处理后，利用AD7324对信号进行模数转换.测试系统能实现输入-输出电阻的测量，且误差在1.5%以内，可以实现放大电路幅频特性测量，还具备故障诊断功能，能较好实现电路特性的自动化测试. |
| 关 键 词： | STM32 电路测试系统 放大电路 幅频特性曲线 |