平板式外延炉大尺寸硅外延层的均匀性调控 |
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引用本文: | 康军亮.平板式外延炉大尺寸硅外延层的均匀性调控[J].科技风,2019(9). |
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作者姓名: | 康军亮 |
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作者单位: | 河北普兴电子科技股份有限公司 |
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摘 要: | 随着现代电子技术的飞速发展,电子元件的精细化程度也不断提高,加工工艺水平直接决定了电子元件的性能。本文结合平板式外延炉大尺寸硅外延层的均匀性调控展开研究,通过实验方法阐述150mm大尺寸硅抛光片硅外延层特征,分别展开厚度均匀性、电阻率均匀性两大部分的调控方法总结。
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