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机床指示与测量系统技术综述
引用本文:杨晓.机床指示与测量系统技术综述[J].科技风,2019(14).
作者姓名:杨晓
作者单位:国家知识产权局专利局专利审查协作中心机械发明审查部
摘    要:利用VEN数据库,以筛选得出的数控机床指示与测量系统专利文献为基础,从申请量,申请人,关键技术等方面进行统计分析,并举典型专利对具体技术分支进行阐述。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
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