基于单片机的数字集成芯片检测仪

本文所研究的内容为检测实验室常用TTL数字集成芯片是否完好的功能。该设计主要通过验证各个逻辑芯片的真值表来检测其完好型判断真值表是否符合后,通过液晶屏显示输出合格与否来了解芯片的完好性。该方法以单片机(STC89C52RC)作为电路核心处理控制芯片,根据每个数字集成芯片的真值表跟被测量芯片输入一定的逻辑电平,然后测量芯片输出是否符合相应的逻辑来判断芯片的好坏。