| 电子显微技术的现状与发展 |
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| 引用本文： | 蒋建国.电子显微技术的现状与发展[J].扬州教育学院学报,2003,21(3):13-16. |
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| 作者姓名： | 蒋建国 |
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| 作者单位： | 扬州教育学院,生化系,江苏,扬州,225002 |
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| 摘 要： | 从已普及使用的扫描电子显微镜(SEM)的应用现状出发,阐述了最近发展的电子显微技术如环境扫描电子显微镜(ESEM)、扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)等新的电子显微技术的结构原理及应用特点。
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| 关 键 词： | SEM ESEM STM AFM 进展 |
| 文章编号： | 1008-6536(2003)03-0013-04 |
| 修稿时间： | 2002年9月25日 |
Actualities and Development of Electronic Microscopy Techniques |
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| JIANG,Jian-guo.Actualities and Development of Electronic Microscopy Techniques[J].Journal of Yangzhou College of Education,2003,21(3):13-16. |
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| Authors: | JIANG Jian-guo |
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| Abstract: | Based on the application actualities of scanning electronic microscopy (SEM),the thesis details the structure and application characteristics of such newly developped electronic microscopy techniques as environmental scanning electronic microscopy (ESEM)?scanning tunneling microscopy (STM)?atomic force microscopy (AFM) etc. |
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| Keywords: | SEM ESEM STM AFM development |
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