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| 如何利用ABI4000M测试MOSFET元件、光耦合器及继电器 | |
| 作者姓名： | 北京金三航科技发展有限公司 |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | 在场效型元器件（MOSFET）,光耦合元件及继电器的测试方式中,主要是以动作状态是否能正确来决定元件是否工作正常。在ABI4000M的V-I曲线测试功能中,可以针对此3种元件功能测试。接下来,先针对此3种元件的基本结构作说明, |
| 关 键 词： | 光耦合器 测试方式 继电器 元件 利用 测试功能 功能测试 元器件 |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
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