| 静电法测量颗粒性质专利技术演进 |
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| 引用本文： | 殷逸虹,李明净.静电法测量颗粒性质专利技术演进[J].中国科技信息,2018(19). |
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| 作者姓名： | 殷逸虹 李明净 |
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| 作者单位： | 国家知识产权局专利局专利审查协作湖北中心;河南科技大学管理学院;;国家知识产权局专利局专利...;云南省药物研究所;云南白...;国家知识产权局专利局专利...;江苏苏州215011);;杭州科技职业技术学院科技...;国家知识产权局专利局专利...;国家知识产权局专利局专利...;中国政法大学民商经济法学...;北京精密机电控制设备研究... |
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| 摘 要： | 正本文针对静电法测量颗粒性质的专利为对象,从申请量、申请区域、主要申请人等方面进行了数据统计与分析,同时对静电法测量颗粒性质的技术发展脉络进行了梳理,认为未来该领域的专利技术应注重从实验阶段到生产实践阶段的转化,侧重于将静电传感器与计算机结合。本文在颗粒检测技术行业起到了积极作用,为该领域未来的布局提供了重要参考。颗粒性质是许多重要领域的工艺指标,如环保监测、矿物加工、制药及粉末冶金等,研究颗粒的特性具有重要的意义。本文利用专利检索系统,检索静电法测量颗粒性质检测方法领域相关的专利申请,重点从
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