|
|||||
|
|
| X射线定向仪应用新技术 | |
| 作者姓名： | 祁红星 |
| 作者单位： | 中国科学院安徽光机所科研处 |
| 摘 要： | x射线定向仪的常规用途,一般仅限于它的偏差和夹角不大于15—20°范围测定。安徽光机所试制的“x射线定向仪应用新技术”方法,较好地解决上述问题,其主要内容: 1.晶面指数及取向的快速测定:测定(hkl)面族中多级衍射的等偏角及(θKα—θKβ)的角差,直接对任何形状晶体的晶面指数或取向进行快速测定,对各种方法生长的棒状晶体特别有效。它速度快,顺利情况下只需几十分钟或十几分钟(经典劳厄定向一般要一天甚至上月),而且精度可提高1～2个数量级。 2.晶胞参数的快速测定:在不破坏样品条件下,可测成品棒晶格常数及各部分变化参 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |