| 薄膜厚度对La0.8Sr0.2MnO3/TiO2PN结整流特性的影响 |
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| 引用本文： | 李彤,刘盾,裴志军,孙守梅,马兴兵,王雅新,冯立营.薄膜厚度对La0.8Sr0.2MnO3/TiO2PN结整流特性的影响[J].天津工程师范学院学报,2008,18(2):9-12. |
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| 作者姓名： | 李彤 刘盾 裴志军 孙守梅 马兴兵 王雅新 冯立营 |
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| 作者单位： | 天津工程师范学院,电子工程系,天津,300222 |
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| 基金项目： | 天津工程师范学院校科研和教改项目 |
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| 摘 要： | 采用磁控溅射法制备了La0.8Sr0.2MnO3(100nm;50nm;17nm)TiO2(70nm)异质PN结,并对其进行电学性能研究.结果显示样品均表现出很好的整流特性.并且在La0.8Sr0.2MnO3/TiO2异质PN结中,当LSMO膜厚较薄时,由于LSMO薄膜与衬底之间的较高的应力局限了载流子浓度,导致扩散电压减小.变温电流电压特性曲线显示随着测量温度的降低,扩散电压增大,这可能由于随着测量温度的变化导致界面电子结构的变化.值得提出的,异质PN结结电阻随温度变化曲线表现出单层LSMO具有的金属绝缘相变特性,并且在低温测量时,结电阻随着测量温度的降低而增大,这可能是由于宽带隙的TiO2的引入造成的.
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| 关 键 词： | 异质结 整流 庞磁阻 薄膜 薄膜厚度 的整流特性 影响 properties rectifying thickness 宽带隙 低温测量 相变特性 绝缘 金属 线表现 温度变化 结电阻 界面电子结构 测量温度 曲线显示 电压特性 电流 变温 |
Influence of thickness on rectifying properties of La0.8Sr0.2MnO3/TiO2 PN junctions |
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| LI Tong,LIU Dun,PEI Zhi-jun,SUN Shou-mei,MA Xing-bing,WANG Ya-xin,FENG Li-ying.Influence of thickness on rectifying properties of La0.8Sr0.2MnO3/TiO2 PN junctions[J].Journal of Tianji University of Technology and Education,2008,18(2):9-12. |
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| Authors: | LI Tong LIU Dun PEI Zhi-jun SUN Shou-mei MA Xing-bing WANG Ya-xin FENG Li-ying |
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