| 原位高温X衍射实验技术研究 |
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| 引用本文： | 汤云晖,梅燕. 原位高温X衍射实验技术研究[J]. 实验技术与管理, 2012, 29(6): 31-34,38 |
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| 作者姓名： | 汤云晖 梅燕 |
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| 作者单位： | 北京工业大学材料科学与工程学院,北京,100124 |
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| 基金项目： | 北京市教育科学“十一五”规划重点课题，北京工业大学教育教学研究项目，北京工业大学博士科研启动基金资助项目 |
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| 摘 要： | 原位高温X衍射是一项应用前景广阔的实验技术。该文采用原位高温X衍射实验技术对电气石进行了25～1 000℃的细致研究,实验揭示了电气石在600℃之前后晶胞参数的变化,原因在于F2e+氧化导致晶胞收缩,并精确确定电气石中的F2e+的氧化温度为600℃、电气石脱羟温度为400℃,显示原位高温X衍射技术是一项很有价值的实验技术。此项实验技术的缺点在于kapton(聚酰亚胺)薄膜的阻隔、导致衍射强度较低,为此提出了可能的解决办法。
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| 关 键 词： | X射线衍射 原位高温 电气石 |
Study on in situ high temperature X-ray diffraction technique |
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| Tang Yunhui , Mei Yan. Study on in situ high temperature X-ray diffraction technique[J]. Experimental Technology and Management, 2012, 29(6): 31-34,38 |
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| Authors: | Tang Yunhui Mei Yan |
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| Affiliation: | (Material Sciences and Engineering School,Beijing University of Technology,Beijing 100124,China) |
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