元器件贮存期漫谈 |
| |
引用本文: | 严军政.元器件贮存期漫谈[J].中国科技纵横,2014(11):51-52. |
| |
作者姓名: | 严军政 |
| |
作者单位: | 中国电科技集团公司第20研究所,陕西西安710068 |
| |
摘 要: | 随着电子产品行业的飞速发展,对元器件的储贮存可靠性提出了越来越高的要求,元器件的贮存已经从原来的装机前的贮存逐步发展到更广义的元器件非工作状态或低功耗状态工作模式,在现代电子产品中,非工作状态或低功耗状态非常普遍,大到武器系统如导弹的引信及弹载计算机,小到大众生活中如汽车安全气囊,空调待机系统等。本文对电子元器件的贮存可靠性进行了探讨,并就元器件的贮存失效模式、影响贮存期的因素以及存期确定的原则进行了阐述。
|
关 键 词: | 贮存可靠性 贮存期 有效贮存期 |
本文献已被 维普 等数据库收录! |
|