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| 八位嵌入式微处理器内核的测试方法研究 | |
| 作者姓名： | 高力立 单羽 |
| 作者单位： | 清华大学微电子学研究所, |
| 摘 要： | 本文在对八位嵌入式微处理器内核性能分析的基础上研究了它的测试方法，并对其测试矢量作了介绍。 |
| 关 键 词： | 八位嵌入式微处理器内核 测试矢量 测试方法 智能卡 |
| 文章编号： | 1002-4956(2001)01-0057-04 |
| 修稿时间： | 2000-06-27 |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
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