| 正则微分系统带权第二特征值的上界 |
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| 引用本文： | 陈卫忠,钱椿林.正则微分系统带权第二特征值的上界[J].常熟理工学院学报,2010,24(10). |
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| 作者姓名： | 陈卫忠 钱椿林 |
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| 作者单位： | 苏州市职业大学,基础部,江苏,苏州,215104;苏州市职业大学,基础部,江苏,苏州,215104 |
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| 基金项目： | 苏州市职业大学基金项目 |
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| 摘 要： | 考虑正则微分系统带权第二特征值的上界估计.利用试验函数、Rayleigh定理、分部积分和Schwartz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值上界的不等式,估计系数与区间的度量无关.
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| 关 键 词： | 正则微分系统 特征值 特征向量 上界 |
Estimate of the Upper Bound of Second Eigenvalue with Weight for Canonical System with Six Orders |
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| CHEN Wei-zhong,QIAN Chun-lin.Estimate of the Upper Bound of Second Eigenvalue with Weight for Canonical System with Six Orders[J].Journal of Changshu Institute of Technology,2010,24(10). |
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| Authors: | CHEN Wei-zhong QIAN Chun-lin |
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