基于AVR单片机的集成电路测试系统设计 |
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作者姓名: | 王丽 陶维青 |
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作者单位: | 1. 安徽国防科技职业学院,安徽·六安,237011 2. 合肥工业大学电气与自动化工程学院,安徽·合肥,230001 |
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摘 要: | 设计了便携式集成电路测试系统.它能测试TTL和CMOS类型的集成电路。整个系统由AVR单片机、程序存储器、测试插座、接口电路、键盘及显示电路组成。该系统操作简单,只须通过键盘就能完成系统的设置及芯片的检测,并且利用LED和液晶显示实现了人机交互功能,极大增加了使用价值。整个系统不仅能够测试器件的好坏、类型及功能,而且经济实用,易于携带,操作方便,其体积与一台普通数字万用表相当,并且能够很好满足个人、学校及公司的要求。
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关 键 词: | AvR单片机 便携 数字集成电路 液晶 功能测试 |
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