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基于机器视觉的芯片成型分离视觉检测系统的研究
引用本文:汤晓燕.基于机器视觉的芯片成型分离视觉检测系统的研究[J].人天科学研究,2009(4).
作者姓名:汤晓燕
作者单位:苏州大学计算机科学与技术学院 苏州工业职业技术学院信息工程系
摘    要:芯片引脚是否合格,是成型分离制程检测的关键。针对这一问题,应用机器视觉和机器自动化技术,研制出实现成型分离制程芯片检测自动化的检测系统。实验测试表明,该设备具有较高的检测精度和检测速度,能够满足生产需要。

关 键 词:成型分离  机器视觉  自动化检测

Machine Vision Based Defect Inspection System in IC Trim/Form
Abstract:It is important for trim form process check that IC pins is eligible.Aimed at this,we develop an automated inspection device by computer vision and mechanical automation technology,to realize the automation on IC check.The results show that,this device can get high precision and high speed,and the results satisfy the needs of practical production.
Keywords:Trim Form  Machine Vision  Automated Inspection  
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