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| 用扫描探针显微镜测量材料表面电学和磁学特性 | |
| 引用本文： | 王秀凤.用扫描探针显微镜测量材料表面电学和磁学特性[J].实验技术与管理,2003,20(4):13-17. |
| 作者姓名： | 王秀凤 |
| 作者单位： | 清华大学物理系,北京,100084 |
| 摘 要： | 扫描探针显微镜是用于测量材料表面不同性质的一类仪器。扫描探针显微镜在测量材料表面电学和磁学特性方面的测量技术发展较快。本文简要介绍了电场力显微镜、磁力显微镜的测量原理，着重对新发展的测量技术的原理及应用进行了描述。 |
| 关 键 词： | 扫描探针显微镜 电场力显微镜 磁力显微镜 测量技术 材料 |
| 文章编号： | 1002-4956(2003)04-0013-05 |
| 修稿时间： | 2003年2月25日 |
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