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| 利用牛顿环检验光学元件表面质量实验论证 | |
| 引用本文： | 张利巍,秦显荣,李,伟.利用牛顿环检验光学元件表面质量实验论证[J].黑龙江科技信息,2014(12):50. |
| 作者姓名： | 张利巍 秦显荣 李 伟 |
| 作者单位： | 东北石油大学;黑龙江省高校校企共建测试计量技术及仪器仪表工程研发中心; |
| 摘 要： | 简单阐述牛顿环干涉原理及利用牛顿环检验光学元件表面质量的原理。选取一个透镜试样,对其表面质量进行检验,根据实验现象、实验数据总结检测结果,并进行必要的讨论且给出定性分析的结果。 |
| 关 键 词： | 牛顿环 检验 光学元件 实验论证 |
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