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| 压力传感器零漂自动测试系统 | |
| 引用本文： | 孙运泰.压力传感器零漂自动测试系统[J].黑龙江科技信息,2004(2):64-64. |
| 作者姓名： | 孙运泰 |
| 作者单位： | 哈尔滨市投资集团公司 |
| 摘 要： | 一、前言。零位漂移是扩散硅压力传感器(简称芯片)的一个关键指标参数,它代表传感器长期工作的稳定性。以往的测量方法是每隔一段时间(通常为二小时),由人手记录测量数据,最后由人手判断测量数据的最大、最小值,从而计算测量结果。因间隔时间太长,特别是下班后无法记录,测量结果不能反映真实的情况。同时因测试芯片数量太多,工人的任务相当繁重,也容易造成错误,有必要实行自动化测试。芯片内部实际上是一个惠斯登平衡 |
| 关 键 词： | 压力传感器 自动测试系统 零位漂移 测量方法 万用表 软件设计 |
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