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锗-雪崩光电二极管对快速光脉冲响应时间的测量
引用本文:周炎辉,王宇青.锗-雪崩光电二极管对快速光脉冲响应时间的测量[J].实验室研究与探索,2005,24(5):20-22,89.
作者姓名:周炎辉  王宇青
作者单位:上海交通大学,物理系,上海,200240
摘    要:基于P^*n平面结构Ge-APD的工作原理,介绍了采用Ge-APD作为光电转换器件,并配以微带电路和取样技术来测量Ge-APD对快速光脉冲响应时间的方法。

关 键 词:锗-雪崩光电二极管  微带电路  取样  响应时间
文章编号:1006-7167(2005)05-0020-04

Measurement of Ge-APD Quick Optical Pulse Response Time
ZHOU Yan-Hui,WANG Yu-qing.Measurement of Ge-APD Quick Optical Pulse Response Time[J].Laboratory Research and Exploration,2005,24(5):20-22,89.
Authors:ZHOU Yan-Hui  WANG Yu-qing
Abstract:The operational principle of Ge-APD was introduced. The measurement of Ge-APD quick optical-electric transducer, micro band circuit and sampling technique were presented.
Keywords:Ge-APD  micro band circuit  sample  response time  
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